[发明专利]一种工艺设计工具包的测试方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种工艺设计工具包的测试方法及装置，首先通过正则匹配的方式，与预设信息比对验证工艺设计工具包的基本信息，而后，通过对参数化单元和物理设计规则分别生成测试图案库，并分别进行批量验证，最后，进行设计流程验证。这样，在保证工艺设计工具包的基本信息的正确性之后，通过对测试向量进行批量验证，保证参数化单元验证的高覆盖率和高效率，进而，完成电路设计的全流程，从全流程中的输出结果，可以验证PDK组件完整性、PDK与电路设计中的设计工具的衔接性以及PDK的电特性，从而实现基于设计流程的验证，充分保证了PDK测试的完整性和覆盖率。

技术领域

本发明涉及集成电路设计领域，尤其涉及一种工艺设计工具包的测试方法及装置。

背景技术

工艺设计工具包(Process Design Kit，PDK)是基于集成电路生产工艺而开发的一整套包括器件信息、工艺信息和验证文件的设计数据包。PDK广泛应用于集成电路设计的各个方面，如前端原理图设计、版图设计、物理验证以及电路仿真等，在模拟、射频以及混合信号等设计领域都有着广泛的应用。

PDK的组件主要包括器件符号(Symbol View)、网表生成文件、参数化单元(PCell)、技术文件(Technology file)、物理验证规则(Rule Decks)和寄生参数抽取文件(RCX)，这些组件为集成电路设计提供完整的工艺文件集合，是连接集成电路(IC)设计和集成电路工艺的数据平台，也是工艺信息、集成电路设计方法和EDA(Electronics DesignAutomation，电子设计自动化)技术的有形载体。

PDK是整个IC设计和工艺设计的基础，在PDK开发之后，必须进行充分的测试验证，保证PDK的完整性和准确性，是保证芯片设计和流片成功的关键。随着IC工艺节点的不断推进，尤其是在进入纳米制程之后，PDK各组件包的内容越来越复杂，例如，在40nm工艺节点，一个PCell器件的CDF(Component Description Format)参数就达到上百个，物理设计规则更是有上千条。而目前，PDK的测试验证主要是通过PDK开发工程师的手工验证来完成，效率低且难以保证验证的覆盖率和完整性。

发明内容

本发明提供了一种工艺设计工具包的测试方法及装置，保证测试的覆盖率和完整性。

一种工艺设计工具包的测试方法，包括：

通过正则匹配的方式，根据预设源信息，比对验证工艺设计工具包的基本信息；

分别生成参数化单元和物理设计规则的测试图案库，并通过对测试图案库的批量测试，分别实现参数化单元和物理设计规则的验证；

基于工艺设计工具包，进行设计流程验证。

可选地，所述预设源信息包括制造工艺信息、SPICE器件模型和PDK设计规范；根据预设信息，比对验证工艺设计工具包的基本信息，包括：

根据制造工艺信息，比对验证器件名称及端点、器件视图和版图图层的基本信息；

根据SPICE器件模型，比对验证器件仿真参数和网表的基本信息；

根据PDK设计规范，对比验证器件的CDF参数和器件的回调函数的基本信息。

可选地，生成参数化单元的测试图案库，并通过对测试图案库的批量测试实现参数化单元的验证，包括：

将参数化单元中的各CDF参数进行参数实例化，使得各CDF参数具有实例化的参数值；

根据各CDF参数的实例化的参数值，生成具有不同实例化的参数值组合的参数化单元的测试图案库，参数化单元的测试图案库中的测试图案为符号图和/或版图；

对参数化单元的测试图案库进行批量测试。