[发明专利]一种基于激光清洗装置的清洗质量监测装置及方法

权利要求书

1.一种基于激光清洗装置的清洗质量监测装置，其特征在于，所述激光清洗装置包括激光清洗加工头，所述激光清洗加工头包括第一振镜、第二振镜、分光镜和场镜，激光清洗时，激光束依次通过所述激光清洗加工头的第一振镜、第二振镜、分光镜和场镜照射到清洗工件的表面；

所述清洗质量监测装置包括辅助光源组件、图像采集装置、图像处理装置；

所述辅助光源组件安装于所述激光清洗加工头的一侧，所述辅助光源组件提供的辅助光的波长是可选择的，所述图像采集装置安装于所述激光清洗加工头的另一侧；

所述辅助光源组件用于为所述清洗工件提供所述清洗工件对应的波长的辅助光，并将所述清洗工件对应的波长的辅助光照射到所述清洗工件的表面；所述图像采集装置获取所述清洗工件对应的波长的辅助光照射下的清洗工件的图像，并将所述图像输送给所述图像处理装置，所述图像处理装置处理所述图像，分析清洗质量，具体包括：

通过所述图像处理装置对所述图像进行图像预处理，得到预处理图像；

通过所述图像处理装置对所述预处理图像进行特征识别，得到所述预处理图像的特征值；具体包括：步骤S301：根据所述预处理图像的滤波窗口区域的纹理和灰度值，判断所述滤波窗口区域是否为基材，若是，则所述滤波窗口区域标记为基材，若否，则所述滤波窗口区域标记为污物；步骤S302：判断是否标记完成所述预处理图像的所有滤波窗口区域，若否，则重复步骤S301，标记下一个滤波窗口区域，若是，则执行步骤S303；步骤S303：采用区域生长算法获取所述基材的轮廓及其对应的灰度值；步骤S304：采用区域生长算法获取所述污物的轮廓及其对应的灰度值；

通过所述图像处理装置根据所述预处理图像的特征值进行特征提取，分析清洗质量，得到分析结果。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述辅助光源组件包括辅助光源、辅助光源控制器和辅助光源支架；所述辅助光源安装于所述辅助光源支架上，所述辅助光源与所述辅助光源控制器连接；

所述辅助光源，可根据需要选择不同类型光源，用于产生选择类型光源的波长的辅助光；

所述辅助光源控制器用于控制所述辅助光源并调节所述辅助光源发出的辅助光的强度；

所述辅助光源支架用于调整所述辅助光源的角度。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述图像采集装置包括成像装置和同轴观测光学镜头组件，所述同轴观测光学镜头组件设置于所述成像装置的前端，用于将所述清洗工件表面的影像输送至所述成像装置，所述成像装置用于将所述清洗工件表面的影像转化成所述清洗工件的图像。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述同轴观测光学镜头组件包括滤光片和反光镜，所述反光镜将所述激光清洗装置中的分光镜反射的所述清洗工件表面的影像反射至所述滤光片，所述滤光片对所述影像进行滤光。