[发明专利]一种SiC高温欧姆接触电极及其制作方法有效
申请号: | 201710547437.0 | 申请日: | 2017-07-06 |
公开(公告)号: | CN107369617B | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | 张景文;谢倩;陈旭东;王明海;卜忍安;王宏兴;侯洵 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/285 |
代理公司: | 61200 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 sic 高温 欧姆 接触 电极 及其 制作方法 | ||
本发明公开了一种SiC高温欧姆接触电极及其制作方法,首先对SiC衬底表面进行抛光处理,然后在SiC衬底表面进行光刻得到电极图像层,然后采用磁控溅射在SiC衬底电极图像层表面上依次沉积Ti层和W层,在W层上利用真空蒸发镀膜依次蒸镀NiCr层和Au层,然后通过退火处理得到欧姆接触电极,采用多层难熔金属Ti/W/NiCr/Au来制作光导开关的多层难熔金属电极,采用的金属熔点高,能够耐受更高的工作温度,金属电极退火后会和SiC基底形成Ti3SiC2合金化合物,提高金属接触电极的电导率,能够大大降低金属电极的接触电阻,因此该方法制作的欧姆接触电极能耐高温、接触电阻小。
技术领域
本发明属于光导开关制备领域,具体涉及一种SiC高温欧姆接触电极及其制作方法。
背景技术
光导开关由于响应快、功率容量大、重复频率高、抖动小、抗干扰能力强等优点,在脉冲功率系统具有十分广阔的应用前景,是当前超快大功率半导体开关领域的研究热点之一。SiC击穿场强大、热导率高,可满足更高电压、更大电流(功率)和高重频的应用需求,是当前最适合制备光导开关的材料。目前开关制备中还存在欧姆接触性能差、耐压值低和可靠性差的问题。因此,本发明提出一种SiC新型高温欧姆接触电极的制作方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种SiC高温欧姆接触电极及其制作方法,以克服下有技术的不足。
为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种SiC高温欧姆接触电极的制作方法,具体包括以下步骤:
首先对SiC衬底表面进行抛光处理,然后在SiC衬底表面进行光刻得到电极图像层,采用磁控溅射在SiC衬底电极图像层表面上依次沉积Ti层和W层,在W层上利用真空蒸发镀膜依次蒸镀NiCr层和Au层,然后通过退火处理得到欧姆接触电极。
进一步的,具体的,对SiC衬底做抛光处理,去除SiC衬底表面的氧化物。首先将SiC衬底依次通过丙酮、酒精、去离子水各超声清洗5-10min,然后用浓H2SO4浸泡5-10min,再依次通过丙酮、酒精和去离子水各超声清洗5-10min,然后通过氮气吹干,置于光学显微镜下观察,看表面是否洁净,采用这种处理方法可以除去表面一些未知的氧化物。
进一步的,采用lift-off工艺在SiC衬底表面进行光刻得到电极图像层,具体的:将抛光后的SiC衬底安装在甩胶机上,在抛光后的SiC衬底表面滴入光刻胶,然后通过甩胶机匀速转动即得到均匀的、没有缺陷的光刻胶膜。
进一步的,采用光刻胶为正性光刻胶SUN-110P;甩胶机甩胶机转速为2000转/min-3000转/min
进一步的,将得到光刻胶膜的SiC衬底进行前烘,将样品置于90-110℃的加热台上,烘烤85-95s;然后用波长为360-370nm的紫外光曝光175-185s,结束后取下样品,避免发生二次曝光;将曝光后的SiC衬底置于正胶显影液不少于55s,用去离子水冲洗不少于30s,除掉显影液残留,再用氮气吹干即可得到光刻后带有电极图像的SiC衬底。
进一步的,磁控溅射过程中在Ar气氛围下进行,功率为20-180W,溅射气压为1.1-1.3Pa。
进一步的,将制作完接触电极的SiC衬底依次通过丙酮、酒精、去离子水各超声清洗3-5min,去除圆孔内的胶,同时胶上附着的金属也会脱落,完成去胶处理。
进一步的,通过在惰性气体氛围下在700-800℃下退火50-70s完成退火处理,使金属与半导体间形成电阻较小的化合物来降低接触电阻。
一种SiC高温欧姆接触电极,其特征在于,SiC衬底上依次为Ti层、W层、NiCr层和Au层;各层厚度分别为:Ti层:40nm、W层:100nm、NiCr层:20nm、Au层:150nm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710547437.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:集尘盒及具有其的除螨吸尘器
- 下一篇:晶圆的平坦化方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造