[发明专利]相控阵天线的近场校准测试方法及装置在审
申请号: | 201710548793.4 | 申请日: | 2017-07-07 |
公开(公告)号: | CN107317639A | 公开(公告)日: | 2017-11-03 |
发明(设计)人: | 苏道一 | 申请(专利权)人: | 广东曼克维通信科技有限公司 |
主分类号: | H04B17/12 | 分类号: | H04B17/12 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 黄隶凡 |
地址: | 510000 广东省广州市广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相控阵 天线 近场 校准 测试 方法 装置 | ||
1.一种相控阵天线的近场校准测试方法,其特征在于,包括步骤:
若探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时,关闭除所述任意一个通道以外的全部通道;
通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。
2.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,还包括步骤:
若所述探头未运行至所述相控阵天线中任意一个通道的采样点时,开通所述相控阵天线的全部通道。
3.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,所述探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时,还包括步骤:
将除所述任意一个通道以外的全部通道的接收状态调整为匹配状态。
4.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,所述通道的采样点为所述通道的相位中心。
5.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,所述通过所述探头获取相控阵天线的测试数据的过程,包括步骤:
通过所述探头获取相控阵天线的发射数据,根据所述相控阵天线的发射数据获取相控阵天线的测试数据。
6.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,还包括步骤:
驱动所述探头运行至所述相控阵天线的各个通道的采样点。
7.根据权利要求5所述的近场校准测试方法,其特征在于,所述探头为相控阵天线伺服系统的近场探头。
8.一种近场天线测试装置,其特征在于,包括:
通道控制模块,用于在探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时,关闭除所述任意一个通道以外的全部通道;
数据获取模块,用于通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。
9.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序程序时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。
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