[发明专利]相控阵天线的近场校准测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 201710548793.4 申请日: 2017-07-07
公开(公告)号: CN107317639A 公开(公告)日: 2017-11-03
发明(设计)人: 苏道一 申请(专利权)人: 广东曼克维通信科技有限公司
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 黄隶凡
地址: 510000 广东省广州市广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 相控阵 天线 近场 校准 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种相控阵天线的近场校准测试方法,其特征在于,包括步骤:

若探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时,关闭除所述任意一个通道以外的全部通道;

通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。

2.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,还包括步骤:

若所述探头未运行至所述相控阵天线中任意一个通道的采样点时,开通所述相控阵天线的全部通道。

3.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,所述探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时,还包括步骤:

将除所述任意一个通道以外的全部通道的接收状态调整为匹配状态。

4.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,所述通道的采样点为所述通道的相位中心。

5.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,所述通过所述探头获取相控阵天线的测试数据的过程,包括步骤:

通过所述探头获取相控阵天线的发射数据,根据所述相控阵天线的发射数据获取相控阵天线的测试数据。

6.根据权利要求1所述的近场校准测试方法,其特征在于,还包括步骤:

驱动所述探头运行至所述相控阵天线的各个通道的采样点。

7.根据权利要求5所述的近场校准测试方法,其特征在于,所述探头为相控阵天线伺服系统的近场探头。

8.一种近场天线测试装置,其特征在于,包括:

通道控制模块,用于在探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时,关闭除所述任意一个通道以外的全部通道;

数据获取模块,用于通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。

9.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序程序时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。

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