[发明专利]一种在线测量极片极耳延展率装置及系统在审

专利信息
申请号: 201710548907.5 申请日: 2017-07-07
公开(公告)号: CN107131863A 公开(公告)日: 2017-09-05
发明(设计)人: 王俊勇 申请(专利权)人: 般若涅利(北京)装备技术有限公司
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32;G01B11/16;G01B15/06
代理公司: 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙)11548 代理人: 李静
地址: 100176 北京市通州区北京经济*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 在线 测量 极片极耳 延展 装置 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种在线测量锂离子电池极片极耳延展率设备,具体是一种在线测量锂离子电池极片极耳延展率设备控制系统。

背景技术

在锂离子电池极片的生产中,有一种连续涂覆的工艺,电池的正或负极材料,均匀涂覆在集流体上,集流体一般是铝箔或铜箔,厚度一般在0.006mm--0.013mm之间;涂覆后在集流体上形成连续的条状结构,在极片的长度方向上连续而且不间断,在宽度方向上分布成相等或不等的间隔结构;一般没有涂覆的区域称为留箔区,电池极耳即在留箔区,另外一部分称为涂覆区;在轧制这种涂覆结构的极片过程中,在极片的留箔区有严重的皱褶出现;采用除皱褶工艺措施后,极耳得到延展。

在电池质量检测的各项指标中,电池经冷压后对电池极片极耳延展率的检测非常重要,会直接影响到后面工序,如何对电池极片极耳延展率进行高精度测量是电池生产厂商急待解决的问题。现有技术中有些电池厂商使用切割极片进行测量,这种测量方法对生产效率和产品质量都产生很大影响,实时性能差,精度不够高,有鉴于此,确有必要提供一种在线能对电池极片极耳延展率进行高精度测量的设备。

发明内容

针对现有技术存在的不足,本发明目的是提供一种在线测量极片极耳延展率装置及系统,以解决上述背景技术中提出的问题,本发明使用方便,操作简单,系统性高,实用性强。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种在线测量锂离子电池极片极耳延展率装置及控制系统,包括打标装置、延展前后标识检测装置、延展前后长度测量装置、控制系统,所述打标装置可在锂离子电池极片的极耳区域进行标识设定;所述延展前后的长度测量装置包括编码器及上下可调节的随动轮组,所述电池极片设置于上下可调节的随动轮组之间,所述上下调节的随动轮组压紧电池极片极耳后,安装在上下可调节的随动轮组上的编码器随电池极片极耳移动而转动,所述编码器能够将记录的脉冲数传送给控制系统;延展前后,所述标识检测装置通过识别标识为控制系统提供信号;所述控制系统根据延展前、延展后的编码器脉冲数,分别记录数据,经分析计算得出该极耳延展率,测量不同位置的延展率,需移动长度测量装置到相应位置。

进一步地,所述打标装置是喷码机,可在不同涂布方式锂离子电池极片极耳上进行标识设定。可以是激光打标、贴标机、喷码机。

进一步地,所述打标装置还包括移动组件,随不同涂布方式锂离子电池极片极耳位置不同而移动。

进一步地,所述打标装置移动组件包括滑动杆一及固定座、滑动座一,固定座可以安装在位置移动组件固定墙板上。

本发明一种在线测量锂离子电池极片极耳延展率装置及控制系统,其中所述延展前后标识检测装置对标识进行检测,安装在打标装置之后。

进一步地,所述延展前后标识检测装置和延展前后长度测量装置在同一相应位置移动组件移动,可以移动延展前后标识检测装置和标识在同一极耳上。

进一步地,所述延展前后标识检测装置包括标识移动组件和标识检测传感器。

进一步地,所述标识检测传感器是色标传感器,还可以是CCD检测传感器。

进一步地,所述延展前后长度测量装置包括编码器和上下可调节的随动轮组,还可是白光测距仪、雷达测速仪、激光测速仪。

进一步地,所述上下可调节的随动轮组包括编码器连接精度轮和下支撑轮,精度轮为金属材质,用于计算长度,其精度轮宽度可为2-50mm,外径尺寸公差H6,直径10mm-200mm。下支撑辊胶层厚度2-10mm邵氏硬度60±5度,宽度2-50mm,前后精度轮外径误差5um。

进一步地,所述上下可调节的随动轮组还包括轮组上下压力调节组件,向上调节该组件可以方便穿带,向下调节可压紧轮组和电池极片极耳。

进一步地,所述上下压力调节组件包括导向轮组安装架、导向杆、调整丝杆。

进一步地,所述上下可调节的轮组可以随不同涂布方式锂离子电池极片的极耳不同而调节位置,轮组固定在长度测量装置位置调节组件上。

进一步地,所述长度测量装置位置调节组件包括滑动杆二及固定墙板、滑动座二。

进一步地,所述控制系统是PLC和触摸屏控制系统。延展前后标识检测装置通过识别标识为控制系统提供信号;控制系统根据编码器转动脉冲数分别进行极片极耳延展前后数据记录,经分析计算得出该极耳延展率。控制系统还可是单片机或上位机控制系统。

计算公式:

δ(i)=[π*D*Hz(i+1)-π*D*Hz(i)]/π*D*Hz(i)

δ(i)为当前延展率;

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