[发明专利]切换时隙数字预失真校正方法、装置及可读存储介质有效
申请号: | 201710549234.5 | 申请日: | 2017-07-06 |
公开(公告)号: | CN109218236B | 公开(公告)日: | 2022-10-18 |
发明(设计)人: | 张哲;袁静;戴征坚;王蕾;宁东方;张作锋 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04L25/49 | 分类号: | H04L25/49 |
代理公司: | 深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙) 44507 | 代理人: | 吴江维 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 切换 数字 失真 校正 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
1.一种切换时隙数字预失真校正方法,其特征在于,所述切换时隙数字预失真校正方法包括:
采集数字预失真DPD处理后功放的输入信号与功放的输出信号;
基于功放配置、所述DPD处理后功放输入信号与功放的输出信号,选取切换时隙数字预失真校正UDSSC模型,并基于所述选取的UDSSC模型提取功放残余失真模型参数,将该功放残余失真模型参数作为目标参数,其中,所述切换时隙数字预失真校正UDSSC模型包括基于瞬时多项式结构模型、滤波器结构模型或电压校准结构模型构建的用于提取所述功放残余失真模型参数的模型;
若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,基于所述目标参数对基站TDD系统输出至功放的待校正信号进行校正处理。
2.如权利要求1所述的切换时隙数字预失真校正方法,其特征在于,所述若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,基于所述目标参数对基站TDD系统输出至功放的待校正信号进行校正处理步骤包括:
获取待校正信号,若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,基于所述目标参数对所述待校正信号进行校正处理,并对校正处理后的该待校正信号进行DPD处理;
或者获取待校正信号,若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,对所述待校正信号进行DPD处理,后基于所述目标参数对该DPD处理后待校正信号进行校正处理。
3.如权利要求1所述的切换时隙数字预失真校正方法,其特征在于,所述切换时隙数字预失真校正模型包括瞬时多项式结构模型,
所述若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,基于所述目标参数对基站TDD系统输出至功放的待校正信号进行校正处理步骤包括:
若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,获取选取的UDSSC模型;
当选取的UDSSC模型为瞬时多项式结构模型时,获取所述待校正信号的模值与函数类型;
基于所述待校正信号的模值与函数类型索引与该输出信号匹配的瞬时多项式结构模型目标参数;
基于所述瞬时多项式结构模型目标参数对所述待校正信号进行校正处理。
4.如权利要求3所述的切换时隙数字预失真校正方法,其特征在于,所述切换时隙数字预失真校正模型包括滤波器结构模型,
所述若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,获取选取的UDSSC模型步骤之后包括:
当选取的UDSSC模型为滤波器结构模型时,获取所述待校正信号的模值与函数类型,并获取待校正信号与滤波输入信号的第一映射关系;
基于所述第一映射关系,获取待校正信号对应的滤波输入信号,基于所述滤波输入信号索引滤波器结构模型目标参数;
基于所述瞬时多项式结构模型目标参数与滤波器结构模型目标参数对所述待校正信号进行校正处理。
5.如权利要求1所述的切换时隙数字预失真校正方法,其特征在于,所述切换时隙数字预失真校正模型包括电压校准结构模型,
所述若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,基于所述目标参数对基站TDD系统输出至功放的待校正信号进行校正处理步骤包括:
若检测到基站TDD系统存在时隙切换时,获取选取的UDSSC模型;
当选取的UDSSC模型为电压校准结构模型时,获取所述待校正信号;
基于所述待校正信号在电压校准结构模型中索引目标漏极电压;
基于所述目标漏极电压,对待校正信号对应的输出电压进行校正处理。
6.如权利要求1所述的切换时隙数字预失真校正方法,其特征在于,所述切换时隙数字预失真校正方法应用于数字预失真校正装置,所述数字预失真校正装置对所述待校正信号进行一次或者多次切换时隙数字预失真校正。
7.一种数字预失真校正装置,其特征在于,所述数字预失真校正装置包括DPD模块,以及实现如权利要求1至6中任一项所述切换时隙数字预失真校正方法对应的UDSSC模块。
8.如权利要求7所述的数字预失真校正装置,其特征在于,所述DPD模块与所述UDSSC模块串联或者并联连接。
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