[发明专利]工件批量检测设备

说明书

本发明公开了一种工件批量检测设备，包括：沿导轨依次设置的检测工位和出料工位，检测工位上设置检测光源，所述检测光源正上方设置有检测CCD，所述出料工位包括沿导轨轴向分布的正品工位和次品工位，所述正品工位和所述次品工位上均设置有一个第一漏孔板，所述漏孔板上设置有若干个漏孔，每个漏孔下部均连接一个承接袋；一载件体安转在所述导轨上并能够沿导轨运动到检测工位、正品工位和次品工位上，所述载件体包括第二漏孔板和位于所述第二漏孔板底部的抽拉板，所述抽拉板由透明材料制作，所述抽拉板与所述第二漏孔板叠合时能够封堵所述第二漏孔板上的漏孔。

技术领域

本发明涉及一种物料检测装置，尤其涉及一种工件批量检测设备。

背景技术

透光键帽，通常是在键帽上设置有个通孔，而在通孔内嵌入透明或半透明的材料。即使用时在键帽底部设置有光源，光源发光时光线可以从透明或半透明的材料处透过，键盘上部分键帽设置成透光键帽，便于使用者识别。

现有技术中需要针对透光键帽上透明或半透明材料处的透光性进行检查，以确保键帽安装到键盘前其透光性是良好的，不会出现透明或半透明材料处不透光或透光收到瑕疵的影响。

发明内容

本发明克服了现有技术的不足，提供一种工件批量检测设备。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案为：一种工件批量检测设备，包括：沿导轨依次设置的检测工位和出料工位，所述检测工位上设置检测光源，所述检测光源正上方设置有检测CCD，所述出料工位包括沿导轨轴向分布的正品工位和次品工位，所述正品工位和所述次品工位上均设置有一个第一漏孔板，所述漏孔板上设置有若干个漏孔，每个漏孔下部均连接一个承接袋；

一载件体安转在所述导轨上并能够沿导轨运动到检测工位、正品工位和次品工位上，所述载件体包括第二漏孔板和位于所述第二漏孔板底部的抽拉板，所述抽拉板由透明材料制作，所述抽拉板与所述第二漏孔板叠合时能够封堵所述第二漏孔板上的漏孔。

本发明一个较佳实施例中，所述载件体位于所述检测工位时，所述载件体位于所述检测光源和所述检测CCD之间。

本发明一个较佳实施例中，所述载件体位于所述正品工位或次品工位时，所述载件体均位于所述第一漏孔板正上方。

本发明一个较佳实施例中，所述第二漏孔板位于第一漏孔板正上方时，所述第二漏孔板上的漏孔和所述第一漏孔板上漏孔的位置一一上下对应。

本发明一个较佳实施例中，所述第二漏孔板也由透明材料制作。

本发明一个较佳实施例中，所述承接袋均为筒形结构，筒形的所述承接袋上开口衔接所述第一漏孔板的漏孔，下开口通过夹子或扎绳封住。

本发明一个较佳实施例中，所述抽拉板由气缸控制进行抽拉动作。

本发明一个较佳实施例中，所述检测光源包括透明或半透明的面体，所述面体下方设置有灯体。

本发明一个较佳实施例中，所述导轨为相互平行的两个，两个导轨之间存在间距，所述第一漏孔板和所述检测光源均位于两个导轨之间。

本发明解决了背景技术中存在的缺陷，本发明具备以下有益效果：

（1）由于每个键帽组包括若干个一起开模生产的不同结构的透光键帽，不同结构的键帽对应一个漏孔，每个漏孔对应一个承接袋，因此同一个承接袋接收到的键帽均为相同结构的键帽。先在检测工位针对键帽进行检测，然后通过检测结果判断载件体下一步运动到正品工位或次品工位，正品工位的布袋承接本批次全部为合格正品键帽的胶帽组；次品工位的布袋承接本批次至少有一个次品键帽的胶帽组。