[发明专利]基因测序芯片及其基因测序方法有效

专利信息
申请号: 201710557848.8 申请日: 2017-07-10
公开(公告)号: CN109234153B 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 蔡佩芝;庞凤春;耿越;车春城;薛海林 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
主分类号: C12M1/34 分类号: C12M1/34
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 焦玉恒
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基因 芯片 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种基因测序芯片,包括:

微流道基板;

第一基板,与所述微流道基板相对设置;以及

第二基板,与所述微流道基板相对设置且设置在所述微流道基板远离所述第一基板的一侧,

其中,所述微流道基板与所述第一基板相对的表面设置有至少一个第一微流道,所述第一基板包括与所述第一微流道连通的第一进样口和第一出样口,

所述微流道基板与所述第二基板相对的表面设置有至少一个第二微流道,所述第二基板包括与所述第二微流道连通的第二进样口和第二出样口,

所述第一微流道为从所述微流道基板靠近所述第一基板的表面凹入所述微流道基板的第一凹槽结构,所述第二微流道为所述微流道基板靠近所述第二基板的表面凹入所述微流道基板的第二凹槽结构,所述第一凹槽结构的深度和所述第二凹槽结构的深度均小于微流道基板的深度,所述第一微流道和所述第二微流道相互隔绝。

2.根据权利要求1所述的基因测序芯片,其中,所述第一微流道在所述微流道基板上的正投影与所述第二微流道在所述微流道基板上的正投影至少部分重叠。

3.根据权利要求1所述的基因测序芯片,其中,所述第一微流道在所述微流道基板上的正投影与所述第二微流道在所述微流道基板上的正投影不重叠。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的基因测序芯片,其中,所述第一进样口和所述第一出样口分别设置在对应的所述第一微流道的两端,所述第二进样口和所述第二出样口分别设置在对应的所述第二微流道的两端。

5.根据权利要求4所述的基因测序芯片,其中,所述第一基板包括从所述第一基板靠近所述微流道基板的一侧凹入所述第一基板的多个第一测序井,各所述第一测序井与对应的所述第一微流道连通并设置在对应的所述第一进样口和所述第一出样口之间,所述第一测序井被配置为放置待测样本。

6.根据权利要求4所述的基因测序芯片,其中,所述第二基板包括从所述第二基板靠近所述微流道基板的一侧凹入所述第二基板的多个第二测序井,各所述第二测序井与对应的所述第二微流道连通并设置在所述第二进样口和所述第二出样口之间,所述第二测序井被配置为放置待测样本。

7.根据权利要求1-3中任一项所述的基因测序芯片,其中,所述第一微流道和/或第二微流道的深度在10-500微米的范围。

8.根据权利要求1-3中任一项所述的基因测序芯片,其中,所述第一微流道和/或第二微流道的宽度在100-10000微米的范围。

9.根据权利要求1-3中任一项所述的基因测序芯片,其中,所述第一微流道包括多个间隔设置的第一测序区域,所述第一测序区域被配置为放置待测样本。

10.根据权利要求9所述的基因测序芯片,其中,所述多个第一测序区域沿所述第一微流道的延伸方向依次设置。

11.根据权利要求1-3中任一项所述的基因测序芯片,其中,所述第二微流道包括多个间隔设置的第二测序区域,所述第二测序区域被配置为放置待测样本。

12.根据权利要求11所述的基因测序芯片,其中,所述多个第二测序区域沿所述第二微流道的延伸方向依次设置。

13.根据权利要求1-3中任一项所述的基因测序芯片,其中,所述第一基板和/或第二基板的材料包括石英、玻璃或有机树脂。

14.一种基因测序芯片的基因测序方法,所述基因测序芯片包括根据权利要求1-13中任一项所述的基因测序芯片,所述基因测序方法包括:

通过所述第一进样口向与所述第一进样口相连通的所述第一微流道依次加入四种不同的脱氧核糖核苷三磷酸;以及

通过所述第二进样口向与所述第二进样口相连通的所述第二微流道依次加入四种不同的脱氧核糖核苷三磷酸。

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