[发明专利]GOA测试电路及GOA测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，具体涉及一种GOA(Gate Driver on Array,阵列基板行驱动)测试电路及GOA测试方法。

背景技术

基于GOA技术的LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示器)具有制程简单、成本低等优点，已逐渐成为主流显示装置。在生产过程中，LCD需要设置测试电路以进行Array测试(阵列测试)和HVA Curing(High Vertical Alignment Curing,高垂直排列固化)制程。

在当前的一种电路结构设计中，请参阅图1所示，Array测试和HVA Curing制程可以共用外围走线11，且相邻两行的显示面板10中间还设置有一条走线12，该走线12与外围走线11未连接。通过对走线12或外围走线11施加驱动信号，每一显示面板10可以通过Array测试焊盘13仅在显示面板10的一侧接收到Array测试信号，即实现Array测试的单边驱动。而在HVA Curing制程中，对外围走线11施加驱动信号，每一显示面板10通过HVA Curing焊盘14仅能在显示面板10的一侧接收到驱动信号，即只能实现HVA Curing制程的单边驱动。当显示面板10的尺寸较大或多个显示面板10所在区域的尺寸较大时，受限于线路阻抗及RC(Resistance-Capacitance)负载较重等原因，驱动信号传递越远衰减越严重，会导致显示面板10出现画面分屏或画面渐变等问题。

为了避免该问题，业界提出了图2所示的电路结构设计，将走线12的两端与外围走线11连接。对外围走线11施加驱动信号时，每一显示面板10的两侧均可以接收到驱动信号，实现HVA Curing制程的双边驱动。但是，该电路结构设计无法实现Array测试的单边驱动，当显示面板10一侧的驱动电路不能正常工作时，另外一侧的驱动电路仍然可以在驱动信号的控制下使显示面板10的像素正常工作，从而导致漏检。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种GOA测试电路及GOA测试方法，既能够实现Array测试的单边驱动，还能够实现HVA Curing制程的双边驱动。

本发明一实施例的GOA测试电路，用于对呈阵列排布的多个显示面板进行测试，所述GOA测试电路包括：

第一走线，设置于多个显示面板所在区域之外，并与每一显示面板的Array测试焊盘和HVA Curing焊盘连接；

至少一条与第一方向平行的第二走线，多个显示面板所在区域被至少一条第二走线划分为沿第二方向排布的至少两个区域，其中所述第二方向与所述第一方向相垂直，且每一第二走线位于相邻的两个所述区域之间，每一第二走线与位于其两侧的各个显示面板的Array测试焊盘和HVA Curing焊盘连接；

开关单元，设置于第一走线和每一第二走线的之间，用于控制第一走线和每一第二走线的导通和断开。

本发明一实施例的GOA测试方法，用于对呈阵列排布的多个显示面板进行测试，所述GOA测试方法包括：

在多个显示面板所在区域之外设置第一走线，第一走线与每一显示面板的Array测试焊盘和HVA Curing焊盘连接；

形成至少一条与第一方向平行的第二走线，多个显示面板所在区域被至少一条第二走线划分为沿第二方向排布的至少两个区域，其中所述第二方向与所述第一方向相垂直，且每一第二走线位于相邻的两个所述区域之间，每一第二走线与位于其两侧的各个显示面板的Array测试焊盘和HVA Curing焊盘连接；

在第一走线和每一第二走线的之间形成开关单元；

开关单元断开第一走线和第二走线的连接，并对第一走线和第二走线施加Array测试信号，以对多个显示面板进行Array测试；

开关单元导通第一走线和第二走线的连接，并对第一走线和第二走线施加HVA Curing制程信号，以对多个显示面板进行HVA Curing制程。

有益效果：本发明在多个显示面板所在区域之外设置第一走线，并将多个显示面板所在区域划分为至少两个区域，在相邻的两个区域之间设置一条第二走线，以及在第一走线和每一第二走线之间设置开关单元，在进行Array测试时，断开开关单元，可以仅对显示面板的一侧施加Array测试信号，从而实现Array测试的单边驱动，而在进行HVA Curing制程时，导通开关单元，可以对显示面板的两侧施加HVA Curing制程信号，从而实现HVA Curing制程的双边驱动。

附图说明