[发明专利]一种票据处理装置及方法在审
申请号: | 201710569824.4 | 申请日: | 2017-07-13 |
公开(公告)号: | CN107369241A | 公开(公告)日: | 2017-11-21 |
发明(设计)人: | 周东 | 申请(专利权)人: | 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院 |
主分类号: | G07D7/164 | 分类号: | G07D7/164;G07D7/04;G07D7/1205 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 518038 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 票据 处理 装置 方法 | ||
1.一种票据处理装置,其特征在于,该装置包括片上系统和与所述片上系统连接的工控计算机;
所述片上系统包括FPGA器件和2个分别与所述FPGA器件连接的MCU;所述FPGA器件,外接至少两个多光谱CIS传感器,用于获取所述至少两个多光谱CIS传感器采集到的待测票据的多个光谱图像;2个MCU用于同时分别对不同的所述光谱图像进行预处理;
所述工控计算机包括计算及识别模块,所述计算及识别模块用于对多个预处理后的所述光谱图像分别进行计算,并结合多个计算结果识别所述待测票据。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述FPGA器件还外接厚度传感器和磁性传感器,还用于获取所述厚度传感器和磁性传感器采集的厚度图像和磁性图像;
其中一个MCU还用于处理所述厚度图像并得出厚度数据,另一个MCU还用于处理所述磁性图像并得到磁性数据。
所述计算及识别模块具体用于:对多个预处理后的所述光谱图像分别进行计算,并结合多个计算结果及所述厚度数据和磁性数据识别所述待测票据。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,2个MCU具体用于:若所述FPGA器件对所述厚度传感器和磁性传感器的控制时序布局于所述多光谱CIS传感器之前,分别根据所述厚度数据和磁性数据初步判断所述待测票据的真假,若2个MCU均初步判断所述待测票据为真,则同时分别对不同的光谱图像进行预处理,若2个MCU中有一个初步判断所述待测票据为假,则向所述工控计算机发送所述待测票据为假的识别结果。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,至少两个多光谱CIS传感器用于采集所述待测票据的正反两面的多个光谱图像。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述待测票据的正反两面的多个光谱图像包括:正面彩色RGB光谱图像、正面红外反射光谱图像、正面紫外反射光谱图像、正面红外透射光谱图像、正面紫外透射光谱图像、反面彩色RGB光谱图像、反面红外反射光谱图像、反面紫外反射光谱图像、反面红外透射光谱图像、和反面紫外透射光谱图像。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述工控计算机还包括显示模块,将所述待测票据的识别结果进行显示。
7.一种票据处理方法,该方法采用权利要求1-6任一项所述的装置来执行,其特征在于,该方法包括:
至少两个多光谱CIS传感器采集待测票据的多个光谱图像;
FPGA器件获取多个所述光谱图像;
2个MCU同时分别对不同的所述光谱图像进行预处理;
计算及识别模块对多个预处理后的所述光谱图像分别进行计算,并结合多个计算结果识别所述待测票据。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,
所述至少两个多光谱CIS传感器采集待测票据的多个光谱图像之前,还包括:
厚度传感器和磁性传感器分别采集所述待测票据的厚度图像和磁性图像;
所述至少两个多光谱CIS传感器采集待测票据的多个光谱图像之后,还包括:
所述FPGA器件获取所述厚度图像和磁性图像;
其中一个MCU处理所述厚度图像得出厚度数据,并初步判断所述待测票据的真假;另一个MCU处理所述磁性图像得到磁性数据,并初步判断所述待测票据的真假;
若2个所述MCU均初步判断所述待测票据为真,则2个MCU同时分别对不同的所述光谱图像进行预处理;若2个MCU中有一个初步判断所述待测票据为假,则向所述工控计算机发送所述待测票据为假的识别结果。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述预处理包括:旋转提取和图像边缘提取。
10.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述计算及识别模块对多个预处理后的所述光谱图像分别进行计算,并结合多个计算结果识别所述待测票据,具体包括:
所述计算及识别模块提取每个预处理后的所述光谱图像的特征,并对提取的所述特征进行分类;
所述计算及识别模块将所述特征和分类的结果与训练库的样本进行匹配,得到每个预处理后的所述光谱图像的计算结果;
所述计算及识别模块根据所有计算结果识别所述待测票据。
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