[发明专利]一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法有效
申请号: | 201710578355.2 | 申请日: | 2017-07-16 |
公开(公告)号: | CN107678192B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 钱基德;钱基业;陈斌;王佐才;陈刚;吴强;李科;张衡 | 申请(专利权)人: | 中科院成都信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 成都赛恩斯知识产权代理事务所(普通合伙) 51212 | 代理人: | 张端阳 |
地址: | 610041 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 机器 视觉 mura 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法,其特征在于:所述方法的具体步骤为:
S1、图像采集:线阵CCD相机(1)置于液晶屏(3)斜上方,与液晶屏(3)呈25°~60°的角度,采集液晶屏的灰度图像I,传输至缺陷检测处理设备;
S2、预处理:对液晶屏图像I采用梯度阈值的边缘检测法,获取液晶屏的边缘,按边缘分割,得到待检测液晶屏图像P;并采用3*3的模板大小对液晶屏图像P进行高斯模糊,得到待处理的图像S;
S3、背景消除:对于图像S采用公式一的基于领域信息的背景消除法,获得前景图像M:
M(x,y)=|S(x+Δd,y)+S(x-Δd,y)+S(x,y+Δd)+S(x,y-Δd)-4M(x,y)| 公式一
其中x,y表示图像中像素点的二维坐标,Δd是增强边缘的宽度,Δd的取值范围是4~10;
S4、二值化:对前景图M采用阈值μ进行阈值化,获得二值图像B;其中对图像M按像素值255~0进行直方图统计,使不超过1%的定义为缺陷或者噪声点,得到阈值μ;
S5、去噪:基于形态学滤波的去噪方法,得到去噪图像BW;
S6、缺陷判定:对二值图像BW统计连通域面积,如果面积大于设定的检测阈值T则认为该处存在缺陷,否则认为是噪声点;具体采用公式二,统计以(x,y)为中心的3*3的邻域白色点,白色点个数大于等于4,认为是缺陷,否则认为是噪声点,其中i,j表示判定当前点是否为缺陷点的统计范围,取值范围为(-1,0,1);所述公式二如下:
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