[发明专利]减少辐射图像中的背景干扰在审

专利信息
申请号: 201710579220.8 申请日: 2017-07-17
公开(公告)号: CN107621652A 公开(公告)日: 2018-01-23
发明(设计)人: 何中;王位一;W.R.凯;C.G.瓦尔;J.M.贾沃斯基 申请(专利权)人: H3D股份有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 张晓明
地址: 美国密*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 减少 辐射 图像 中的 背景 干扰
【说明书】:

技术领域

本公开通常涉及减少辐射图像中的背景干扰。

背景技术

包括但不限于α、β、γ辐射的辐射发射源可以在各种设置中找到。可以使用对位置敏感的辐射照相机来精确定位感兴趣的源(a source of interest)的位置。然而,除了感兴趣来源之外的干扰源的存在可能会污染数据,并且使精确定位(pinpoint)感兴趣的源的位置变得困难。在许多情况下,物理移动(多个)污染源可能不太可能。期望能够找到一种减少背景干扰的方法。

发明内容

一种成像组件,包括:配置为获得至少一个感兴趣的源的位置敏感的辐射数据的辐射照相机。所述组件包括控制器,所述控制器包括处理器和有形的、非暂时性的存储器,所述有形的、非暂时性的存储器上记录用于执行用于减少图像域(与频域相对)中对位置敏感的辐射数据中的背景噪声的方法的指令。所述控制器编程为利用第一能量窗从位置敏感辐射数据生成第一组图像数据(G1)。利用第二能量窗从位置敏感的辐射数据中生成第二组图像数据(G2),使得第二能量窗与第一能量窗不重叠。至少部分基于第一组和第二组图像数据,生成具有减少的背景干扰的第三组图像数据(G3)。第一组、第二组和第三组图像数据每个分成具有相应数值的相应的箱(bin)。

感兴趣的源可能是伽马射线放射性同位素,并且辐射照相机可能包括半导体探测器,诸如碲化锌镉(CdZnTe)复合检测器。第一能量窗在第一最小能量(MIN1)和第一最大能量(MAX1)之间延伸,包括第一最小能量(MIN1)和第一最大能量(MAX1)。第二能量窗在第二最小能量(MIN2)和第二最大能量(MAX2)之间延伸,包括第二最小能量(MIN2)和第二最大能量(MAX2)。第一能量窗可能低于第二能量窗,使得第一最大能量小于第二最小能量(MAX1<MIN2)。第一能量窗可以约是650到672keV,第二能量窗可以约是620到642keV。第一能量窗可以在第二能量窗之上,使得第一最小能量大于第二最大能量(MIN1>MAX2)。

生成第三图像数据可以包括从第一组图像数据的相应的箱的每一个中减去第一阈值(G1-T1);并且从第二组图像数据的相应的箱的每一个中减去第二阈值(G2-T2)。利用具有相应数值[(G1-T1)-(G1-T2)]的相应箱获得减法图像数据(S)。第一组图像数据和第二组图像数据的相应箱定义了相应最小箱值。第一阈值(T1)和第二阈值(T2)可以是第一组图像数据(G1)和第二组图像数据(G2)相应的最小箱值。

生成第三组图像数据(G3)可能包括确定在减法图像数据(S)中的相应箱中的任何一个是否具有负的相应数值。具有负的相应值的每一个相应箱被识别为接收箱(RA,P<0)。对每一个接收箱(RA,P),生成第三组图像信息(G3)可能包括在具有正的相应数值(Dr1>0)的第一半径(r1)内定位第一组供应箱(Dr1)。第一组供应箱(Dr1)的每一个的相应数值按照最接近的顺序依次传送到接收箱(RA,P),直到接收箱(RA,P)具有零值。第一组接收箱(Dr1)的相应数值同时减少。

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