[发明专利]处理器硅前性能评估方法

说明书

本发明提供一种处理器硅前性能评估方法。所述方法包括：软件生成带有标识核心代码标记的基准测试程序；硬件仿真执行所述基准测试程序，使用硬件监控单元记录所述基准测试程序的运行性能信息；利用所述硬件监控单元记录的所述基准测试程序的运行性能信息还原所述基准测试程序的得分。本发明能够缩短基准测试程序的仿真运行时间，提高处理器硅前性能评估的效率。

技术领域

本发明涉及集成电路设计技术领域，尤其涉及一种处理器硅前性能评估方法。

背景技术

在处理器研发过程中需要进行硅前性能评估，以保证验证完成和流片后的处理器性能满足设计需求。硅前性能评估通常采用基准测试的方式，执行业内公认的基准测试程序，在运行结束后获取得分，跟对标芯片得分进行比较，得到性能优劣情况。

由于在研发过程中，处理器存在许多错误，直到验证后期才能成功启动操作系统，在真实场景下运行基准测试程序。如果想在项目早期和中期就进行评估，需要采用电脑裸机(Bare metal)的形式，即没有配置操作系统和其他软件的电子计算机。

硅前性能评估通常伴随着进行性能分析和调优，需要大量灵活的观测具体信号，所以一般使用的手段为仿真方式，如软件仿真、硬件仿真加速器等。但是仿真方式受限于仿真速度，在有限的时间内很难完成基准测试程序运行。例如，软件仿真速度在K Cycles/S量级左右，硬件仿真加速器速度在M Cycles/S量级左右，而真实的移动基准测试程序往往需要运行数秒的仿真。以5S时间举例，假如处理器的主频是1GHZ，那么完成5秒钟的仿真需要一个月以上时间，即使使用硬件仿真加速器也需要一小时以上的时间，并且硬件仿真加速器资源昂贵且极其有限，不能长时间大批量占用。这还只是一个程序的运行时间，如果要运行多套基准测试程序，代价更大。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：

在采用仿真手段进行处理器硅前性能评估时，基准测试程序的仿真运行时间较长，使得处理器硅前性能评估的效率较低。

发明内容

本发明提供的处理器硅前性能评估方法，能够缩短基准测试程序的仿真运行时间，提高处理器硅前性能评估的效率。

第一方面，本发明提供一种处理器硅前性能评估方法，包括：

软件生成带有标识核心代码标记的基准测试程序；

硬件仿真执行所述基准测试程序，使用硬件监控单元记录所述基准测试程序的运行性能信息；

利用所述硬件监控单元记录的所述基准测试程序的运行性能信息还原所述基准测试程序的得分。

可选地，所述基准测试程序中的计时系统调用采用标号的形式。

可选地，所述基准测试程序中包括标号信息。

可选地，所述标号信息的获取方式包括：显示的在程序中获取，利用编译工具获取并编译到可执行文件中，或者利用编译工具获取并生成到临时文件中等待仿真使用。

可选地，所述标号信息的储存方式包括特殊指令、特殊程序序列或特殊程序行为。

可选地，所述硬件监控单元包括采样信息收集器、指令执行监控器、采样配置装置、计时触发装置、硬件计时装置和结束装置，所述使用硬件监控单元记录所述基准测试程序的运行性能信息包括：

所述采样信息收集器根据信号组合识别所述标号信息并保存；

所述指令执行监控器监控处理器内部的流水线控制信号，根据所述内部的流水线控制信号的组合还原出指令的执行状态；

所述采样配置装置记录本次采样需要识别的配置；