[发明专利]用于低摩擦结合活塞密封件的密封唇有效

专利信息
申请号: 201710588669.0 申请日: 2017-07-19
公开(公告)号: CN107664221B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 丹尼尔·J·利维;罗伯特·D·佩凯克;兰斯·A·佩措尔德 申请(专利权)人: 斯凯孚公司
主分类号: F16J15/16 分类号: F16J15/16
代理公司: 北京智沃律师事务所 11620 代理人: 王屹东
地址: 瑞典*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 摩擦 结合 活塞 密封件 密封
【权利要求书】:

1.一种用于低摩擦结合活塞密封件(100)的环形密封件,所述环形密封件具有中心轴线并且包括:

环形密封件主体(50),所述环形密封件主体(50)绕着所述中心轴线对称地定位,和

环形密封唇(10),所述环形密封唇(10)与所述环形密封件主体(50)一体成型并且具有:

下部密封唇主体(52),和

顶部密封唇(12),所述顶部密封唇(12)具有:

第一径向唇厚度(T1),

第二径向唇厚度(T2),

径向唇高度(H),和

径向唇总压力接收厚度(T3),

其中,所述第二径向唇厚度(T2)与所述第一径向唇厚度(T1)的比率小于1.00,

所述径向唇高度(H)与所述第二径向唇厚度(T2)的比率大于或等于0.65,

所述径向唇总压力接收厚度(T3)小于或等于0.8mm,

所述第一径向唇厚度(T1)小于或等于0.7mm,

所述径向唇总压力接收厚度(T3)由参考点P1与参考点P3之间的水平距离确定,

所述第一径向唇厚度(T1)由参考点P1与参考点P2之间的水平距离确定,

所述径向唇高度(H)由第一水平线(X1)与第二水平线(X2)之间的竖直距离以及由参考点P1和参考点P4确定,

所述第二径向唇厚度(T2)由参考点P3与参考点P4之间的水平距离确定,

P1、P2、P3和P4都位于环形密封唇的外表面上,

P1位于第一水平线(X1)与第一径向唇半径(R1)的弧的中间的位于最左边的竖直切点的交叉点处,P2位于第二径向唇半径(R2)与第一水平线(X1)的交叉点处,P3位于顶部密封唇(12)的基部(14)的沿着第二水平线(X2)的右端点处,P4位于顶部密封唇(12)的基部(14)的沿着第二水平线(X2)的左端点处,第二水平线(X2)在顶部密封唇(12)的基部(14)处,并且

所述第一径向唇半径(R1)的中心点还位于第一水平线(X1)上。

2.一种用于低摩擦结合活塞密封件的环形密封件,所述环形密封件具有中心轴线并且包括:

环形密封件主体,所述环形密封件主体绕着所述中心轴线对称地定位,和

环形密封唇,所述环形密封唇与所述环形密封件主体一体成型并且具有:

下部密封唇主体,和

顶部密封唇,所述顶部密封唇具有:

第一径向唇厚度(T1),

第二径向唇厚度(T2),其中

所述第二径向唇厚度(T2)与所述第一径向唇厚度(T1)之间的比率小于1.00,

所述第一径向唇厚度(T1)由参考点P1与参考点P2之间的水平距离确定,所述第二径向唇厚度(T2)由参考点P3与参考点P4之间的水平距离确定,P1位于第一水平线(X1)与第一径向唇半径(R1)的弧的中间的位于最左边的竖直切点的交叉点处,所述第一径向唇半径(R1)的中心点还位于第一水平线(X1)上,P2位于第二径向唇半径(R2)与第一水平线(X1)的交叉点处,第二水平线(X2)在顶部密封唇的基部处,P3位于顶部密封唇的基部的沿着第二水平线(X2)的右端点处,P4位于顶部密封唇的基部的沿着第二水平线(X2)的左端点处。

3.根据权利要求2所述的用于低摩擦结合活塞密封件的环形密封件,其特征在于,还包括径向唇高度(H),其中

径向唇高度(H)与第二径向唇厚度(T2)的比率大于或等于0.65,

所述径向唇高度(H)由参考点P1与参考点P4之间的竖直距离确定。

4.根据权利要求2所述的用于低摩擦结合活塞密封件的环形密封件,其特征在于,还包括径向唇总压力接收厚度(T3),所述径向唇总压力接收厚度(T3)由参考点P1与参考点P3之间的水平距离确定,所述径向唇总压力接收厚度(T3)小于或等于0.8mm。

5.根据权利要求2所述的用于低摩擦结合活塞密封件的环形密封件,其特征在于,所述第一径向唇厚度小于或等于0.7mm。

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