[发明专利]位移检测装置在审
申请号: | 201710593168.1 | 申请日: | 2017-07-20 |
公开(公告)号: | CN107643042A | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 吉谷拓海 | 申请(专利权)人: | 梅莱克塞斯技术股份有限公司 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 于丽 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位移 检测 装置 | ||
1.一种位移检测装置,具有:
磁铁,其在一个方向进行位移且为棒状,并具有长度方向与所述一个方向成预定角度的形状;以及
传感器,其至少在与所述一个方向和所述磁铁的磁化方向正交的方向对所述磁铁形成的磁场的磁通密度进行检测,输出与检测出的磁场成比例的信号。
2.如权利要求1所述的位移检测装置,其中,
所述传感器具有以与所述一个方向正交的第1方向为敏感方向的多个磁检测元件,所述传感器具有磁集中器,该磁集中器将与所述一个方向及所述第一方向正交的第二方向的磁通变换成所述第一方向的磁通。
3.如权利要求2所述的位移检测装置,其中,
所述传感器将所述多个磁检测元件的输出相加来输出与所述第1方向的磁通密度成比例的信号,通过取得所述多个磁检测元件的输出之差,从而输出与所述第2方向的磁通密度成比例的信号。
4.如权利要求1至3中任一项所述的位移检测装置,其中,
所述磁铁的磁化方向为与所述一个方向正交的方向。
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