[发明专利]一种测试标片制作方法及测试标片

说明书

本发明涉及晶体硅太阳能电池制造领域，尤其涉及一种测试标片制作方法及测试标片。其中，测试标片制作方法包括：对硅片的双面进行制绒；对硅片的正面进行扩散；对硅片的双面进行边缘刻蚀；在硅片的正面印刷细栅；对硅片进行一次烧结；对硅片的正面镀减反膜；在硅片的背面印刷背极；在硅片的背面印刷背场；在硅片的正面印刷主栅；对硅片进行二次烧结。通过在镀减反膜之前先进行细栅的印刷和一次烧结，在镀减反膜之后进行主栅的印刷和二次烧结，测试标片在使用的过程中能够减少细栅与外界氧气的接触，避免细栅的磨损，从而降低测试标片在使用过程中的衰减，延长测试标片的使用寿命。

技术领域

本发明涉及晶体硅太阳能电池制造领域，尤其涉及一种测试标片制作方法及测试标片。

背景技术

光电转换效率是太阳能电池的重要产品指标，太阳能电池制造商会在太阳能电池片出厂前对此指标进行测试，获得的效率称为出厂效率，根据不同的出厂效率以不同的价格卖给购买商。购买商在收到产品后，也会对太阳能电池进行效率测试，所测得效率称为检验效率，如果检验效率与出厂效率不符合，便会引起制造商和购买商之间的纠纷。所以太阳能电池效率测试的准确性在光伏行业中起着十分重要的作用。

获得光电转换效率的方式如下：准备一张太阳能电池测试标片，通过调整测试机的光强、温度补偿系数等参数，使标片的测试值等于其标称效率，从而完成测试机的校准。然而，随着太阳能电池测试标片的使用次数增多，其上设置的细栅不断的磨损及氧化，标片的测试效率发生衰减，使测试效率偏离标称效率，造成测试标片的使用寿命较短。

发明内容

本发明的一个目的是提出一种测试标片制作方法，用来解决测试标片使用寿命短的问题。

本发明的另一个目的是提出一种测试标片，用来解决现有的测试标片使用寿命短的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种测试标片制作方法，包括以下步骤：

步骤A：对硅片的双面进行制绒；

步骤B：对步骤A处理后的硅片的正面进行扩散；

步骤C：对步骤B处理后的硅片的双面进行边缘刻蚀；

步骤D：在步骤C处理后的硅片的正面印刷细栅；

步骤E：对步骤D处理后的硅片进行一次烧结；

步骤F：对步骤E处理后的硅片的正面镀减反膜；

步骤G：在步骤F处理后的硅片的背面印刷背极；

步骤H：在步骤G处理后的硅片的背面印刷背场；

步骤I：在步骤H处理后的硅片的正面印刷主栅；

步骤J：对步骤I处理后的硅片进行二次烧结。

作为一种测试标片制作方法的优选方案，步骤D中印刷所述细栅的浆料为非烧穿型浆料。

作为一种测试标片制作方法的优选方案，步骤D在印刷所述细栅的同时还印刷定位点，所述定位点用于印刷所述主栅时的定位。

作为一种测试标片制作方法的优选方案，步骤D中印刷的所述细栅为多条，多条所述细栅平行设置。

作为一种测试标片制作方法的优选方案，步骤I中印刷的所述主栅与步骤D中印刷的所述细栅相垂直。

作为一种测试标片制作方法的优选方案，步骤I中印刷所述主栅的浆料为烧穿型浆料。

作为一种测试标片制作方法的优选方案，步骤F中的所述减反膜为氮化硅的薄膜。

一种测试标片，应用如上所述的测试标片制作方法制成。