[发明专利]一种通信基站集成测试用开关箱

说明书

技术领域

本发明涉及基站的功能和性能指标测试设备，尤其涉及一种通信基站集成测试用开关箱，用于FDD LTE和NB-IOT通信制式产品的自动化集成测试系统的高效和可靠的搭建。

背景技术

随着通讯技术的发展，在无线通讯中，各种制式的通讯网络不断更新，为了满足人们对网络日益俱增的需求，第四代移动通讯系统网络的技术也在不断更新迭进。网络通讯质量和网络覆盖率已成为各大运营商运营竞争的主要指标。

同时，新一代无线通信技术在FFD LTE的基础上出现了新的分支：针对物联网的NB-IOT通信制式。新一代无线通信技术涉及的基站性能、功能测试关系到布网基站的可靠性，也成为各大设备商和运营商之间成本、时间竞争的关键因素。

随着通讯设备测试技术日趋成熟，发展方向也向着自动化、小型化、更高精度发展。传统的测试手段已无法满足测试的需要，尤其是对基站射频测试接口的集成性、易用性、可靠性、自动化、标准化等，提出了更高的要求。

发明内容

本发明公开了一种用于通信基站集成测试的装置；通过集成多组低互调衰减器、高性能同轴射频开关以及宽频段功分器或环形器为主要器件的硬件测试开关箱HRCSF，结合相匹配的具有测试权限管理、测试用例编辑以及执行的自动化测试平台软件，实现多台RRU较多数量的端口并行自动化集成测试，减少环境搭建以及测试通道切换的所用时间，提升测试执行效率，体现测试环境客观性。

本发明通信基站集成测试用开关箱包括箱体；箱体内部设有依次连接的低互调衰减器、同轴开关以及修正器件；所述修正器件包括功分器或者环形器；所述箱体内侧壁设有屏蔽涂层；所述屏蔽涂层的厚度为2-3微米。利用本发明，基站设备的A端口FDD待测信号通过低互调衰减器进行衰减，再通过同轴开关传输给修正器件，最后传给频谱仪，输出结果。

本发明创造性的在箱体内侧壁设置一定厚度的屏蔽涂层，可以将低互调衰减器、同轴开关以及修正器件置于箱体内，箱体可完成内部器件、外部接口、可视化触摸屏的安装，尤其是内外信号的屏蔽，确保测试结果准确，通过厚度的限定避免对散热的影响，使设备具备一定的散热性和可靠性应力需求；优选的，箱体内部设有安装架，用于支撑以及各部件安装；优选的，箱体设有散热孔，进一步优选散热孔位于箱体侧面和/或顶部，散热孔呈方形分布。

本发明中，低互调衰减器为复数个；多组低互调衰减器对每一路待测信号进行衰减，并保证信号的低互调特性，限定低互调衰减器的PIM<-155dBc、VSWR<1.3、平坦度<±2dB，同时其功率容限、频率范围和衰减值可根据应用场景更换，接口形式包括N型母头。

本发明中，同轴开关为复数个高性能射频同轴开关，其符合测试需要，为市购产品，完成对测试通路的导通和断开状态切换；限定同轴开关频率范围为DC-18GHz、VSWR<1.2、切换时间<20ms，接口形式包括SMA型母头。

本发明中，功分器为宽频功分器，频率范围为600-6000MHz，功率容量不低于20W，端口驻波比<1.5，从而可以保证待测设备端口到频谱仪端口、信号源端口到待测设备端口导通，频谱仪端口和信号源端口之间有一定隔离度。

本发明硬件测试开关箱HRCSF的实现形式包括了多组低互调衰减器、高性能射频同轴开关、宽频段功分器或环形器三段式高集成的组合方式；用于从基站待测端口到测试仪表之间的FDD LTE和NB-IOT基站集成测试系统和装置中。

进一步的，所述通信基站集成测试用开关箱还包括接口，其可以安装在箱体侧壁；接口包括设备接口（测设备端口、测试仪表端口）、电源控制键（电源接口、开关机按键、接地柱）、数据接口（网口、串行接口），优选的包括待测设备端口、测试仪表端口、电源接口、开关机按键、RJ45网口、USB接口或者BNC接地柱，其中待测设备端口是被测设备的信号输入、输出端口，单个端口输入的功率限制与低互调衰减器的功率容限一致，端口数量根据测试需求可扩展；测试仪表端口是输入、输出到仪表的互连端口，测试仪表端口的功率限制不大于20W，优选单独使用一个端口时，另外一个端口需要加匹配负载；电源接口为本装置的电源输入端子；开关机按键可以为装置的电源开关；RJ45网口为远程控制及开关箱版本升级的网络接口；USB接口为屏幕版本升级接口；BNC接地柱为本装置的接地接口。

进一步的，所述通信基站集成测试用开关箱还包括输入装置，优选可视化触摸屏，可实现查询装置的版本信息、设置装置的ip地址的效果，还可以用触摸屏方式控制各路开关的导通状态，其可以安转在箱体外侧壁。