[发明专利]位移检测装置及无级变速装置有效
申请号: | 201710597417.4 | 申请日: | 2017-07-21 |
公开(公告)号: | CN107655496B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | 吉谷拓海 | 申请(专利权)人: | 梅莱克塞斯技术股份有限公司 |
主分类号: | G01D5/14 | 分类号: | G01D5/14 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 于丽 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位移 检测 装置 无级 变速装置 | ||
技术领域
本发明涉及位移检测装置及无级变速装置。
背景技术
作为现有技术,提出了以下的无级变速装置,该无级变速装置中,使可动槽轮移动的致动器和对可动槽轮的位置进行检测的传感器为分立元件(例如,参照专利文献1)。
专利文献1中公开的无级变速装置以分立元件的形式具有:使可动槽轮移动的致动器;和对可动槽轮的位置进行检测的传感器,致动器通过臂使可动槽轮移动,传感器通过检测臂的位置来检测可动槽轮的位置。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2014-196780号公报
发明内容
发明要解决的问题
但是,专利文献1所示的无级变速装置,与致动器和传感器为一体的且检测致动器的杆的突出量的情况相比,难以受到从传感器到可动槽轮的各元件的尺寸误差和组装误差的影响,能够高精度地检测可动槽轮的位置,但是存在以下问题:由于不是直接检测可动槽轮的位置,从而精度存在限制。
因此,本发明的目的在于提供直接检测可动槽轮的位置的位移检测装置及无级变速装置。
解决问题的方案
对于本发明的一形态,为了实现上述目的,提供以下的位移检测装置。
技术方案1的位移检测装置具有:
磁铁,其形成磁场;
测量对象,其进行旋转,并且沿旋转轴方向进行位移,且在圆周面具有凹部或凸部;以及
传感器,其具备:检测元件,其配置在所述磁铁和所述测量对象的圆周面之间,在所述磁铁形成的、且被所述测量对象的所述凹部或所述凸部诱导的磁场内,在所述旋转轴方向和所述测量对象的半径方向上,分别检测出伴随所述测量对象的位移的磁通密度的变化,输出与磁通密度相应的输出值;和信号处理电路,其对该检测元件的输出进行处理,
在所述传感器中,将所述检测元件沿所述旋转轴方向以预定间隔成组地配置,所述信号处理电路关于所述旋转轴方向和所述半径方向分别计算出该多个检测元件的输出值之差作为第1差和第2差,输出基于该第1差和该第2差之比求出的值作为输出信号。
技术方案2的无级变速装置具有:
磁铁,其形成磁场;
可动槽轮,其在圆周面具有凹部或凸部;以及
传感器,其具备:检测元件,其配置在所述磁铁和所述可动槽轮的圆周面之间,在所述磁铁形成的、且被所述可动槽轮的所述凹部或所述凸部诱导的磁场内,在所述可动槽轮的旋转轴方向和所述可动槽轮的半径方向上,分别检测出伴随所述可动槽轮的位移的磁通密度的变化,输出与磁通密度相应的输出值;和信号处理电路,其对该检测元件的输出进行处理,
在所述传感器中,将所述检测元件沿所述旋转轴方向以预定间隔成组地配置,所述信号处理电路关于所述旋转轴方向和所述半径方向分别计算出该多个检测元件的输出值之差作为第1差和第2差,输出基于该第1差和该第2差之比求出的值作为输出信号。
技术方案3的位移检测装置具有:
磁铁,其形成磁场;以及
传感器,其具备:检测元件,其配置于在进行旋转并且沿旋转轴方向进行位移的测量对象的圆周面形成的凹部或凸部和所述磁铁之间,在所述磁铁形成的、且被所述测量对象的所述凹部或所述凸部诱导的磁场内,在所述旋转轴方向和所述测量对象的半径方向上,分别检测出伴随所述测量对象的位移的磁通密度的变化,输出与磁通密度相应的输出值;和信号处理电路,其对该检测元件的输出进行处理,
在所述传感器中,将所述检测元件沿所述旋转轴方向以预定间隔成组地配置,所述信号处理电路关于所述旋转轴方向和所述半径方向分别计算出该多个检测元件的输出值之差作为第1差和第2差,输出基于该第1差和该第2差之比求出的值作为输出信号。
发明效果
根据技术方案1~3的发明,可以直接检测可动槽轮的位置。
附图说明
图1是表示实施方式的无级变速装置的结构例的部分剖面图。
图2是表示可动槽轮进行了移动时的位移检测装置及无级变速装置的结构例的部分剖面图。
图3是表示传感器的结构的部分剖面图。
图4中(a)及(b)是表示霍尔IC的结构的立体图及剖面图。
图5A中(a)-(c)是用于说明位移检测装置的动作的概略图。
图5B中(d)、(e)是用于说明位移检测装置的动作的概略图。
图6是表示霍尔IC检测出的磁场的x分量相对于可动槽轮的位移量的曲线图。
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