[发明专利]一种纳米银喷墨打印墨滴边界对齐优化方法及打印机

权利要求书

1.一种纳米银喷墨打印墨滴边界对齐优化方法，其特征在于，所述纳米银喷墨打印墨滴边界对齐优化方法包括以下步骤：

步骤一，根据测量不同压电喷头负压值与喷出纳米银墨滴半径的关系，拟合获得负压与墨滴间距的关系方程；

步骤二，将在计算机中确定模型表面打印模型中的待打印部分，将待打印部分分离，保存成STL格式；将曲面表面打印模型中的待打印曲面进行数据处理，将原模型分成多个三角形，根据不同基材表面调节负压选择相应墨滴半径，并根据墨滴半径相应步距进行路径规划生成带有喷射区间指令的G代码；

步骤三，根据带有喷射区间指令的G代码，计算开始打印起始坐标和打印区间长度，根据墨滴半径对打印长度进行墨滴半径补偿，并存入打印长度变量中；

步骤四，根据优化出来的打印长度和墨滴半径确定打印时墨滴间距，进行墨滴落点初规划，根据非整数倍步长的剩余打印区的大小从新微调墨滴间距，提高导电图形边界整齐度；

步骤五，打印导电图形表面；

步骤六重复步骤三到步骤五，将所有执行代码执行完成，最终获得导电图形，结束打印。

2.如权利要求1所述的纳米银喷墨打印墨滴边界对齐优化方法，其特征在于，所述步骤一中负压与墨滴半径关系为：

R(x)＝y₀R₀(x)+y₁R₁(x)+y₂R₂(x)+y₃R₃(x)；

其中：负压值x₀、x₁、x₂、x₃，负压值对应的墨滴平均半径y₀、y₁、y₂、y₃。

3.如权利要求1所述的纳米银喷墨打印墨滴边界对齐优化方法，其特征在于，所述步骤三中墨滴半径补偿公式为：

其中：墨滴半径R和墨滴间距S。

4.如权利要求1所述的纳米银喷墨打印墨滴边界对齐优化方法，其特征在于，所述步骤四中墨滴落点对齐优化包括：

墨滴半径补偿后打印区间长度：L_new＝L-2h；

将打印区间分成N段：

判断四舍五入：若N*L_onestep≥L_new则为五入；

若N*L_onestep≤L_new则为四舍；

若为四舍，误差长度为：L_rest＝L_new-N*L_onestep；

优化后的墨滴间距为：

若为五入，误差长度为：L_rest＝N*L_onestep-L_new；

优化后的墨滴间距为：

打印墨滴数量N+1；

其中打印区间长度L_new，墨滴步距L_onestep，整数N，将打印区间分成N段，需要打印N+1个点，误差长度L_rest，墨滴间距L_newstep。

5.如权利要求1所述的纳米银喷墨打印墨滴边界对齐优化方法，其特征在于，所述步骤五中根据优化后的墨滴间距L_newstep和墨滴数量N+1，进行工作，由下位机判断是否进入打印区间，若进入打印区间，压电喷头开始喷射第一个点，当运行距离为优化后的墨滴间距L_newstep的整数倍时，压电喷头就喷一个点，当喷射墨滴数量N+1时，结束工作。

6.一种使用权利要求1～5任意一项所述纳米银喷墨打印墨滴边界对齐优化方法的打印机。