[发明专利]集成电路芯片及其检查方法

权利要求书

1.一种集成电路芯片的检查方法，包括：

由所述集成电路芯片的一目标电路产生一目标信号；

由所述集成电路芯片的一转换检测电路在一初始化期间检测所述目标信号的转换，以产生一转换检测结果；

由所述集成电路芯片的一电平检测电路检测所述目标信号的电平，以产生一电平检测结果；以及

依据所述转换检测结果判断所述目标电路的初始化是否正常；

其中，所述判断所述目标电路的初始化是否正常之步骤包括：

当所述目标信号的电平在一额定期间内达一额定电平时，判定所述目标电路的初始化为正常；

当所述目标信号的电平在所述额定期间内未达所述额定电平，且所述目标信号的转换速率不为0时，判定所述目标电路的初始化为正常；以及

当所述目标信号的电平在所述额定期间内未达所述额定电平，且所述目标信号的转换速率为0时，判定所述目标电路的初始化为失败。

2.如权利要求1所述的集成电路芯片的检查方法，还包括：

当所述目标信号的电平在一第一期间未达一额定电平，且所述目标信号的转换速率不为0时，由所述目标电路加大所述目标信号的转换速率，以使所述目标信号的电平在一额定期间内达到所述额定电平。

3.如权利要求1所述的集成电路芯片的检查方法，还包括：

将所述转换检测结果记录在所述集成电路芯片内的一第一寄存器；以及

将所述电平检测结果记录在所述集成电路芯片内的一第二寄存器。

4.一种集成电路芯片，包括：

一目标电路，用以产生一目标信号；以及

一转换检测电路，耦接至所述目标电路，用以检测在一初始化期间所述目标信号的转换，以产生一转换检测结果，

其中，所述转换检测结果用以判断所述目标电路的初始化是否正常，并且

其中，所述目标电路包括一电源供应电路、一反馈电路与一电压比较电路，所述转换检测电路包括一滤波器；

所述电源供应电路提供一电源电压作为所述目标信号；

所述反馈电路耦接至所述电源供应电路以接收所述电源电压，并且提供一反馈电压；

所述电压比较电路耦接至所述反馈电路以接收所述反馈电压，并且比较所述反馈电压与一参考电压以产生一比较结果给所述电源供应电路的一反馈控制端；以及

所述滤波器耦接至所述电压比较电路以接收所述比较结果，并且对所述比较结果进行滤波以获得所述转换检测结果。

5.如权利要求4所述的集成电路芯片，还包括：

一电平检测电路，耦接至所述目标电路，用以检测所述目标信号的电平，以产生一电平检测结果。

6.如权利要求5所述的集成电路芯片，其中当所述目标信号的电平在一第一期间未达一额定电平，且所述目标信号的转换速率不为0时，所述目标电路加大所述目标信号的转换速率，以使所述目标信号的电平在一额定期间内达到所述额定电平。

7.如权利要求5所述的集成电路芯片，其中所述转换检测结果被记录在所述集成电路芯片内的一第一寄存器，而所述电平检测结果被记录在所述集成电路芯片内的一第二寄存器。