[发明专利]矢量光场偏振模式无创房水痕量物质分析装置有效
申请号: | 201710611566.1 | 申请日: | 2017-07-25 |
公开(公告)号: | CN107510434B | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 高秀敏;许恒深;王冠学;苗玉;单新治;包颖 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | A61B3/14 | 分类号: | A61B3/14;A61B3/00;A61B5/1455;A61B5/145;A61B5/00 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根;王晶 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 矢量 偏振 模式 无创房水 痕量 物质 分析 装置 | ||
1.一种矢量光场偏振模式无创房水痕量物质分析装置,包括:光源(1)、光束整形部件(2)、偏振调节部件(3)、照射分光镜(4)、参考光束分光镜(6)、参考光束传感器(7)、信息光束分光镜(8)、信息光束传感器(9)、频率信息分析模块(10)、矢量干涉图样光电采集部件(11)、信息处理模块(12),其特征在于:所述光源(1)出射光依次经过光束整形部件(2)、偏振调节部件(3)、照射分光镜(4)照射到眼球(5),其中,光束整形部件(2)对光束进行整形后形成照射用宽光束,偏振调节部件(3)调节光束偏振态分布,实现矢量光场,照射分光镜(4)的透射光束为矢量光场照射光束,照射分光镜(4)对宽光束矢量光场分光,反射光束构成参考光束,参考光束的光路上依次设置参考光束分光镜(6)、参考光束传感器(7),其中,参考光束分光镜(6)的反射光束构成干涉用参考光束,参考光束分光镜(6)的透射光束被参考光束传感器(7)接收;所述眼球(5)反射光束经过照射分光镜(4)反射的光束光路上依次设置信息光束分光镜(8)、信息光束传感器(9),其中,信息光束分光镜(8)的反射光束构成干涉用信息光束,信息光束分光镜(8)的透射光束被信息光束传感器(9)接收;所述参考光束传感器(7)和信息光束传感器(9)均与频率信息分析模块(10)相连接,由频率信息分析模块(10)分析参考光场和信息光场时间频率信息,处理排除外界杂散光和眼球(5)运动的干扰;所述参考光束分光镜(6)的反射光束构成干涉用参考光束和所述信息光束分光镜(8)的反射光束构成干涉用信息光束进行矢量光场干涉,并由设置在矢量干涉图样区域的矢量干涉图样光电采集部件(11)接收,矢量干涉图样光电采集部件(11)和频率信息分析模块(10)均与信息处理模块(12)相连接,由信息处理模块(12)分析矢量干涉图样演化特性,得到房水痕量物质浓度信息。
2.根据权利要求1所述的种矢量光场偏振模式无创房水痕量物质分析装置,其特征在于:所述的偏振调节部件(3)为维纳结构偏振调节部件、液晶偏振调节部件、高精细度腔偏振调节部件的一种。
3.根据权利要求1所述的种矢量光场偏振模式无创房水痕量物质分析装置,其特征在于:所述的光源(1)采用红光波段激光器,光束整形部件(2)采用伽利略型扩束系统,照射分光镜(4)采用分光棱镜,参考光束分光镜(6)和信息光束分光镜(8)均采用平面分光镜,参考光束传感器(7)和信息光束传感器(9)均采用APD传感器,矢量干涉图样光电采集部件(11)采用面阵光电传感器。
4.根据权利要求1所述的种矢量光场偏振模式无创房水痕量物质分析装置,其特征在于:所述的参考光束分光镜(6)和信息光束分光镜(8)的反射光束均朝向远离眼球(5)一侧,并且相互存在交叉区域。
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