[发明专利]不带温度稳定器的探测器测温调温方法有效
申请号: | 201710617794.X | 申请日: | 2017-07-26 |
公开(公告)号: | CN107238442B | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 薛晓勇 | 申请(专利权)人: | 杭州天铂红外光电技术有限公司 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01J5/06 |
代理公司: | 浙江永鼎律师事务所 33233 | 代理人: | 郭小丽 |
地址: | 310000 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温度 稳定 探测器 测温 调温 方法 | ||
1.一种不带温度稳定器的探测器测温调温方法,包括如下步骤:
(1)标定,在测温范围L-H内,每间隔一定的温度a,采集同一温度均匀目标物体的AD值变化量,记为ADS[];其中,采样最大的AD值记为MaxADS,采样最小的AD值记为MinADS;同时,记录标定时测温器工作的环境温度记为DTemp;
(2)计算AD对应的温度值
(2.1)建立探测器的线性变化规律:ADS[RDTemp]=x*ADS[DTemp],其中RDTemp代表当前探测器的工作温度,x代表线性变化系数,ADS[DTemp]代表采集环境温度DTemp时的AD值变化量;
(2.2)根据当前探测器的工作温度推测实时AD与实际温度的关系:利用线性变化规律推算各温度间隔DRT对应的AD值变化量ADS[DRT],最大的AD值记为MaxAD2和最小的AD值记为MinAD2;
(2.2.1)温度校正:
取探测器内置黑体的绝对AD值BAD以及绝对温度值BT,计算BT对应的AD值,记为AD3;计算公式如下:
(2.2.2)计算实际AD偏移值Addiff=BAD-AD3;
(2.2.3)根据Addiff,建立实时AD值ADRealSample[DRT]与实际温度的对应公式:
ADRealSample[DRT]=ADS[DRT]-Addiff;
(3)修正温度
(3.1)根据实时AD值与实际温度的对应公式,可推算出每一AD值对应的实际温度ADRealSample[DRT],考虑环境因素后的最终温度,不带距离修正时的温度值TempNoDist计算方法为:
其中,Ems为辐射率、Dist为距离、Env为环境温度,RH为相对湿度;
(3.2)计算出最终温度距离修正的系数DistCoff:
其中,Dist1和Dist2代表距离2个采样点的实际距离,Dist1Temp1和Dist1Temp2分别代表Dist1采样点采集的2个温度值,Dist2Temp1和Dist2Temp2分别代表Dist2采样点采集的2个温度值;
(3.3)计算出最终的温度值RealTemp,RealTemp=TempNoDist*DistCoff。
2.根据权利要求1所述的不带温度稳定器的探测器测温调温方法,其特征在于:步骤(1)之前还包括步骤(0)去除噪声,采集AD值;根据温度中值滤波算法,找出AD值的坏点坐标,然后用周围5*5的像素的平均值替换坏点。
3.根据权利要求2所述的不带温度稳定器的探测器测温调温方法,其特征在于:所述找出AD值的坏点坐标的过程如下:
设定有效AD值的阈值范围VADL-VADH;
依次判断每个AD值是否在有效阈值范围内;若否,将该AD值添加到坏点列表;若是,则进行下一个AD值的判断,直至所有AD值判断完成。
4.根据权利要求3所述的不带温度稳定器的探测器测温调温方法,其特征在于:所述用周围5*5的像素的平均值替换坏点具体过程如下:获取坏点列表中每个坏点的位置,判断每个坏点周围24个点是否是坏点,统计每个坏点周围24个点的非坏点数量和非坏点AD值总和,求出每个坏点周围24个点的非坏点AD平均值,将该非坏点AD平均值替换坏点的AD值。
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