[发明专利]降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示器领域，尤其涉及一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法。

背景技术

随着显示技术发展，人们对LCD液晶显示屏的外观要求越来越高。其中为了追求极致的显示体验，各LCD屏生产厂家都在致力于超窄边框LCD的研发，如何最大程度地降低LCD的边框宽度，提高产品的屏占比，已经成为一个热门的研究课题。随之而来的全面屏(Full Screen)也应运而生，然而，超高的屏占比导致手持全面屏设备时，极易导致误操作发生。

触控面板通常包括由导电材料如ITO(氧化铟锡)按照预设图案沉积在基板上所形成的传感器(Sensor)，传感器可以感应手指触摸触控面板生成电信号。触控面板的传感器结构上预先设计为呈N(H，水平方向)×M(V，垂直方向)的阵列结构，也就是N列×M行。工作时，由触控芯片(IC)按照预设驱动程序驱动触控面板，将传感器生成的电信号转换为触摸位置信息，触控芯片驱动触控面板时根据触控面板传感器所呈的阵列结构按照行列扫描方式进行驱动。

如图1所示，其为现有全面屏操作及触控面板(TP)工作方式示意图。根据全面屏的尺寸，触控面板的传感器呈18(H)×36(V)阵列。按照现有的触控面板控制方法，正常驱动时，触控面板采用传感器呈18×36阵列的方式进行驱动。当手持全面屏设备进行操作时，如果此时触控面板工作状态仍为按照现有方式进行正常驱动，虽然可以得到手指触摸位置，但是此时虚线所示的设备边缘就成为易发生触控面板误操作的位置。如何降低或克服误操作已成为一个亟待解决的问题。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，克服全面屏边缘触控面板误操作，优化用户体验。

为实现上述目的，本发明提供了一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，包括：根据全面屏边缘处传感器的检测，确定全面屏设备是否处于握持状态；当确定全面屏设备处于握持状态时，由触控芯片根据当前具体握持状态确定触控面板控制方法。

其中，当前握持状态为左右握持状态时，触控芯片停止边界处一列或若干列触控面板的驱动。

其中，当前握持状态为上下握持状态时，触控芯片停止边界处一行或若干行触控面板的驱动。

其中，当前握持状态为上下左右握持状态时，触控芯片停止边界处一行和列或若干行和列触控面板的驱动。

其中，触控面板未停止驱动的行或列由触控芯片按原本的设定频率进行驱动。

其中，当前握持状态为左右握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一列或若干列触控面板无触摸状态。

其中，当前握持状态为上下握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一行或若干行触控面板无触摸状态。

其中，当前握持状态为上下左右握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一行和列或若干行和列触控面板无触摸状态。

其中，当检测到全面屏设备处于握持状态时，触控芯片停止当前具体握持状态所对应不规则区域的触控面板的驱动。

其中，当检测到全面屏设备处于握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为当前具体握持状态所对应不规则区域的触控面板无触摸状态。

综上，本发明降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法能够在不影响实际使用效果的前提下，克服全面屏边缘触控面板误操作，优化用户体验。

附图说明

下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其他有益效果显而易见。

附图中，

图1为现有全面屏操作及TP工作方式示意图；

图2为本发明一较佳实施例全面屏左右握持操作及TP工作方式示意图；

图3为本发明又一较佳实施例全面屏上下握持操作及TP工作方式示意图；

图4为本发明再一较佳实施例全面屏上下握持操作及TP非规则区域工作方式示意图。

具体实施方式

本发明降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法主要包括：根据全面屏边缘处传感器的检测，确定全面屏设备是否处于握持状态；当确定全面屏设备处于握持状态时，由触控芯片根据当前具体握持状态确定触控面板控制方法。根据全面屏设备触控面板边缘处传感器检测，来确定设备是否处于握持状态，并进一步确定TP控制方法及驱动范围。可以根据全面屏的大小预先设定判断握持状态的条件，当传感器检测到的位置信息符合条件时即确定处于握持状态和具体为何种握持状态。本发明的全面屏设备具体可以为手机或平板电脑等。