[发明专利]一种双带宽的超导纳米线单光子探测器有效

专利信息
申请号: 201710621411.6 申请日: 2017-07-27
公开(公告)号: CN107564990B 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 金飚兵;韩诗颖;郑帆;朱广浩;康琳;许伟伟;陈健;吴培亨 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L31/09 分类号: H01L31/09;H01L31/0232;G01J11/00;B82Y30/00
代理公司: 江苏银创律师事务所 32242 代理人: 孙计良
地址: 210001 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 带宽 导纳 米线 光子 探测器
【权利要求书】:

1.一种双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,包括衬底(1)、第一布拉格反射镜(2)、二氧化硅层(4)、氮化铌纳米线(5)和第二布拉格反射镜(6);第一布拉格反射镜(2)和第二布拉格反射镜(6)中均包含有若干个周期的周期性介质层,且第一布拉格反射镜(2)和第二布拉格反射镜(6)所包含的周期数不同;第一布拉格反射镜(2)设置在衬底(1)的上表面,二氧化硅层(4)设置在第一布拉格反射镜(2)的上面,氮化铌纳米线(5)设置在二氧化硅层(4)内部,第二布拉格反射镜(6)设置在二氧化硅层(4)的上表面;还包括用于调节第一布拉格反射镜(2)相位的硅层(3);硅层(3)设置于第一布拉格反射镜(2)和二氧化硅层(4)之间。

2.如权利要求1所述的双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,第一布拉格反射镜(2)由14个周期的周期性介质层所组成;第二布拉格反射镜(6)由3个周期的周期性介质层所组成。

3.如权利要求1所述的双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,第一布拉格反射镜(2)的周期性介质层由两种不同材质的两个介质层叠加而成;所述两个介质层的两种材质分别为二氧化硅和五氧化二钽。

4.如权利要求1所述的双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,第二布拉格反射镜(6)的周期性介质层由两种不同材质的两个介质层叠加而成;所述两个介质层的两种材质分别为二氧化硅和五氧化二钽。

5.如权利要求1所述的双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,第一布拉格反射镜(2)的中心波长为1425nm-1445nm。

6.如权利要求1所述的双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,第二布拉格反射镜(6)的中心波长为1440nm-1460nm。

7.如权利要求1所述的双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,二氧化硅层(4)的厚度为415nm-425nm;氮化铌纳米线(5)的宽度为45nm-55nm,厚度为4nm-7nm,占空比为20%-30%。

8.如权利要求7所述的双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,氮化铌纳米线(5)距离二氧化硅层(4)的下表面340nm-350nm。

9.如权利要求1所述的双带宽的超导纳米线单光子探测器,其特征在于,硅层(3)的厚度为70nm-80nm。

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