[发明专利]一种样品升温过程磁化率测定的实验系统有效

专利信息
申请号: 201710622439.1 申请日: 2017-07-24
公开(公告)号: CN107238810B 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 张辛亥;秦政;苗于惠;张天赐 申请(专利权)人: 西安科技大学
主分类号: G01R33/16 分类号: G01R33/16
代理公司: 西安合创非凡知识产权代理事务所(普通合伙) 61248 代理人: 高志永
地址: 710054 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 样品 升温 过程 磁化率 测定 实验 系统
【权利要求书】:

1.一种样品升温过程磁化率测定的实验系统,其特征在于,包括温控磁化率样品管、分析天平(8)、两磁极(9)和一温控装置(10),所述温控磁化率样品管位于两磁极(9)之间,所述温控磁化率样品管包括下端封闭的管体(2)、用于封闭管体的管塞(3)、保温套(1)以及热导体(7),所述管体(2)的管口为磨砂口,与管塞(3)成锥形连接,所述管塞(3)顶部设有一半圆弧吊环(5),所述半圆弧吊环(5)通过细线(11)与分析天平(8)相连,所述管塞(3)中部设置有手柄(4),所述保温套(1)包裹管口以下的整个管体,由抗磁性保温材料制成;所述热导体(7)安装在管体(2)内,通过电源线与温控装置(10)相连,管体(2)高10cm处刻有一圈刻度线;所述管塞(3)的长为2-3cm;所述管体(2)下端为平底,高为13-15cm;所述管体(2)与管塞(3)均为耐高温抗磁性材料,由石英制成;所述热导体(7)为陶瓷制成;所述温控装置(10)的温度控制范围为300摄氏度以内。

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