[发明专利]地震振幅属性提取过程中时窗的确定方法和装置

说明书

本发明提供了一种地震振幅属性提取过程中时窗的确定方法和装置，其中，该方法包括：确定工区内样本井中的非储层样本、第一储层样本以及第一储层样本位置；基于第一储层样本测井数据建立的第一波阻抗模型，正演得到第一正演波形；利用非储层样本替换第一储层样本位置处的第一储层样本，得到替换后的第二储层样本；基于第二储层样本测井数据建立的第二波阻抗模型，正演得到第二正演波形；根据第一正演波形和第二正演波形，确定出时窗位置，其中，确定出的时窗位置用于计算地震振幅属性。在本发明实施例中，工作量较小，准确性较高，可以为属性的提取选择更加合理的时窗。

技术领域

本发明涉及地质勘探技术领域，特别涉及一种地震振幅属性提取过程中时窗的确定方法和装置。

背景技术

地震属性可以指的是将叠前或者叠后地震数据经过数学变换，从而得出的有关地震波的几何学、运动学、动力学或统计学特征。地震属性可以包括：振幅、相位、频率等多种属性类型，目前已广泛应用于预测岩性和储层性质分析等方面。地震振幅属性的提取受两方面因素影响：地震解释层位的准确性、时窗的大小和位置。因此，如何选取地震振幅属性提取过程中时窗的大小和位置是确定储层分布的一个重要的问题。

然而，采用现有方法确定时窗时，一般可以利用人为判断和多次试验相结合的方式。采用这种方式工作量较大、效率较低并且准确性差。

发明内容

本发明提供了一种地震属性提取过程中时窗的确定方法和装置，以解决现有技术中采用人为判断和多次试验相结合的方式确定时窗时，工作量较大、效率较低且准确性较差的问题。

本发明实施例提供了一种地震属性提取过程中时窗的确定方法，可以包括：确定工区内样本井中的非储层样本、第一储层样本以及所述第一储层样本位置；基于所述第一储层样本测井数据建立的第一波阻抗模型，正演得到第一正演波形；利用所述非储层样本替换所述第一储层样本位置处的第一储层样本，得到替换后的第二储层样本；基于所述第二储层样本测井数据建立的第二波阻抗模型，正演得到第二正演波形；根据所述第一正演波形和所述第二正演波形，确定出时窗位置，其中，确定出的时窗位置用于计算地震振幅属性。

在一个实施例中，在根据所述第一正演波形和所述第二正演波形，确定出时窗位置之后，所述方法还包括：获取所述工区内待测地层的多道地震数据所对应的多道地震振幅响应；计算所述多道地震振幅响应在所述时窗位置内的多道振幅属性值；分别将所述多道振幅属性值各道振幅属性值中的最大值所对应的待测地层范围，作为所述待测地层的储层分布范围。

在一个实施例中，根据所述第一正演波形和所述第二正演波形，确定出时窗位置，包括：计算所述第一正演波形与所述第二正演波形之间的差值；将所述差值大于零时所对应的时窗位置作为地震振幅属性计算时的时窗位置。

在一个实施例中，基于所述第一储层样本测井数据建立的第一波阻抗模型，正演得到第一正演波形，包括：

基于所述第一波阻抗模型计算得到第一反射系数；

根据所述第一反射系数按照以下公式正演得到第一正演波形：

x(t)＝W(t)*R(t)

上式中，x(t)表示所述第一正演波形，W(t)表示雷克子波，R(t)表示所述第一反射系数；

相应的，基于所述第二储层样本的测井数据建立的第二波阻抗模型，正演得到第二正演波形，包括：

基于所述第二波阻抗模型计算得到第二反射系数；

根据所述第二反射系数按照以下公式正演得到第二正演波形：

x(t)＝W(t)*R(t)

上式中，x(t)表示所述第二正演波形，W(t)表示雷克子波，R(t)表示所述第二反射系数。