[发明专利]一种微型磁通门传感器制备方法在审

专利信息
申请号: 201710624004.0 申请日: 2017-07-27
公开(公告)号: CN107367288A 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 侯晓伟;王飞;倪大成;郑良广;郭俊杰 申请(专利权)人: 宁波中车时代传感技术有限公司
主分类号: G01D5/12 分类号: G01D5/12;C23C16/40
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司33102 代理人: 张一平,王莹
地址: 315021 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 微型 磁通门 传感器 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:选取两个高阻硅片(1),分别在两个高阻硅片(1)上进行刻蚀,以使得两个高阻硅片(1)键合后能够形成用于放置磁芯(2)的磁芯腔(100)、多个围绕在磁芯腔(100)外周的螺线管腔(200)以及与螺线管腔(200)相连通的电极窗口(300);

两个高阻硅片(1)键合前,在磁芯腔(100)对应在两个高阻硅片(1)上的位置沉积绝缘层;

在螺线管腔(200)的内表面上沉积绝缘层,并在螺线管腔(200)内填充线圈材料,从而在螺线管腔(200)内形成螺线管线圈(3);

自磁芯腔(100)中部的位置切割键合后的两个高阻硅片(1),使得磁芯腔(100)一侧开口,自开口处将带材磁芯(2)插入磁芯腔(100)内,使用填充材料密封固定开口,从而完成微型磁通门传感器的制备。

2.根据权利要求1所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:包括以下步骤:

步骤一、选择高阻硅片(1),并对高阻硅片(1)进行处理;

所述高阻硅片(1)的处理过程为;

步骤1.1、在高阻硅片(1)的第一表面刻蚀磁芯槽(11),并在磁芯槽(11)的内表面沉积绝缘层;

步骤1.2、在高阻硅片(1)的第二表面上刻蚀多条横跨所述磁芯槽(11)的线圈槽(12);

步骤1.3、沿高阻硅片(1)的厚度方向,自每个线圈槽(12)两端分别蚀刻与各线圈槽(12)相连通的通孔(13);

步骤1.4、在高阻硅片(1)的第二表面上刻蚀与线圈槽(12)或通孔(13)相连通的电极窗口(300);

步骤1.5、分别在线圈槽(12)的内表面以及通孔(13)的内壁面上沉积绝缘层;

步骤二、将两个经过处理的高阻硅片(1)的第一表面相对设置并进行键合,使得两个高阻硅片(1)键合后,两个高阻硅片(1)上的磁芯槽(11)对合形成所述磁芯腔(100),两个高阻硅片(1)上的各线圈槽(12)和通孔(13)连通形成多个围绕在磁芯腔(100)外周的螺线管腔(200);

步骤三、在螺线管腔(200)内填充线圈材料以形成螺线管线圈(3);

步骤四、自磁芯腔(100)中部的位置切割键合后的两个高阻硅片(1),使得磁芯腔(100)一侧开口;

步骤五、自开口处将带材磁芯(2)插入磁芯腔(100)内,使用填充材料密封固定开口;

步骤六、完成微型磁通门传感器的制备。

3.根据权利要求2所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:在步骤1.1和步骤1.2之间,对高阻硅片(1)的第二表面进行减薄处理。

4.根据权利要求2所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:在步骤1.1前对高阻硅片(1)表面进行氧化处理。

5.根据权利要求4所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:通过热氧化或者PECVD的方法对高阻硅片(1)进行氧化处理。

6.根据权利要求2所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:通过热氧化或者PECVD的方法在线圈槽(12)的内表面以及通孔(13)的内壁面上沉积形成绝缘层。

7.根据权利要求2所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:通过聚合膜键合两个高阻硅片(1)。

8.根据权利要求7所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:所述聚合膜采用BCB或者PI材料。

9.根据权利要求1至7任一权利要求所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:使用KOH或者TMAH材料进行刻蚀处理,或者使用DRIE的方法进行刻蚀处理。

10.根据权利要求1至7任一权利要求所述的微型磁通门传感器制备方法,其特征在于:自开口处将磁芯(2)插入内,密封固定所述磁芯腔(100)的开口的填充材料为环氧树脂。

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