[发明专利]一种基于数据库校准方法的介电常数测量方法

权利要求书

1.一种基于数据库校准方法的介电常数测量方法，其特征在于，采用三段式同轴夹具，包括左段夹具、中段夹具及右段夹具，均用于填充待测介质；具体包括以下步骤：

步骤1.建立数据库：将N个样品介质材料分别填充至左段夹具和右段夹具，通过电磁仿真软件分别测得左段夹具和右段夹具的S参数：

左段夹具S_l：右段夹具S_r：

并将左段夹具和右段夹具S参数分别变换为T参数：

左段夹具T_l：右段夹具T_r：

计算得左段夹具与右段夹具级联的T参数T_a：

将左段夹具与右段夹具级联的T参数T_a转换为S参数S_a：

将参数T_l、T_r、T_a、S_a均存入数据库，即建立参数数据库，用于进行夹具去嵌入；

步骤2.将待测介质材料分别填充至左段、中段及右段夹具，将左段夹具与右段夹具连接、并接入矢量网络分析仪，测量得S参数S_s：

计算数据库中参数S_a与S_s误差值：

找出最小误差值的S_a参数、标记为其对应T_l、T_r参数认定为填充待测介质后左段夹具、右段夹具的T参数、分别标记为

步骤3.夹具去嵌入：将左段夹具、中段夹具、右段夹具依次连接，并接入矢量网络分析仪，测量得S参数S_z，并转换为T参数T_z：

计算得填充待测介质后中段夹具的T参数T_x：

并转换为S参数S_x：

则计算得待测介质材料介电常数ε_r：其中，T＝S_x21，c为光速，ω＝2πf，f为频率，d为中间段待测介质的长度。