[发明专利]用于干蚀刻机台的下电极结构及干蚀刻机台在审

专利信息
申请号: 201710628785.0 申请日: 2017-07-28
公开(公告)号: CN107393803A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 张佳;张占东 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司44304 代理人: 孙伟峰,武岑飞
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 用于 蚀刻 机台 电极 结构
【权利要求书】:

1.一种用于干蚀刻机台的下电极结构,其特征在于,包括:

绝缘部,包括相对的第一表面和第二表面;

电极部,设置于所述第二表面上;

顶针孔,贯穿所述绝缘部和所述电极部,所述第一表面与所述顶针孔的内表面的连接处形成台阶;

顶针,包括针杆以及连接于所述针杆一端的托盘;

其中,当所述顶针承载所述被处理的基板至所述第一表面上时,所述托盘的端部位于所述台阶上,以将所述顶针孔的在所述第一表面上的开口封闭,所述针杆位于所述顶针孔中。

2.根据权利要求1所述的下电极结构,其特征在于,所述针杆和所述托盘均呈圆柱体状,所述托盘的底面直径大于所述针杆的底面直径。

3.根据权利要求1所述的下电极结构,其特征在于,所述托盘呈圆柱体状,所述针杆呈长方体状,所述针杆在所述托盘上的投影完全位于所述托盘内。

4.根据权利要求1所述的下电极结构,其特征在于,所述针杆和所述托盘均呈长方体状,所述针杆在所述托盘上的投影完全位于所述托盘内。

5.根据权利要求1所述的下电极结构,其特征在于,所述托盘呈长方体状,所述针杆呈圆柱体状,所述针杆在所述托盘上的投影完全位于所述托盘内。

6.根据权利要求1所述的下电极结构,其特征在于,所述绝缘部由陶瓷材料制成。

7.根据权利要求1至5任一项所述的下电极结构,其特征在于,所述顶针由绝缘材料制成。

8.一种干蚀刻机台,其特征在于,包括权利要求1至7任一项所述的下电极结构。

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