[发明专利]一种基于稀土玻璃费尔德系数光谱测量系统的测量方法在审
| 申请号： | 201710636082.2 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN109324021A | 公开（公告）日： | 2019-02-12 |
| 发明（设计）人： | 卢平 | 申请（专利权）人： | 苏州润桐专利运营有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261 | 代理人： | 赵丽丽 |
| 地址： | 215600 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 稀土玻璃 电磁铁 可变 测量 光谱测量系统 自聚焦透镜 光谱仪 磁场强度测量 线偏振光产生 双折射晶体 准确度 系数测量 直流电源 检偏器 灵敏度 上位机 可用 受控 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于稀土玻璃费尔德系数光谱测量系统的测量方法，其特征在于：所述测量方法包括：
(1)将待测稀土玻璃(104)置于可变间距电磁铁(201)中，通过直流电源(202)为电磁铁供电，用高斯计(204)测量磁场强度B；
(2)打开线偏振光产生器，线偏振光经过稀土玻璃后的光偏振方向发生改变，通过光谱仪(108)可直接得到光谱干涉条纹，对该干涉条纹进行傅里叶变换就可以得到干涉条纹的交流项、直流项以及晶体中两路光之间的光程差，根据
得到该磁场强度下的法拉第转角，通过：
θ＝VBL，
得到待测稀土玻璃(104)的费尔德常数；
(3)改变直流电源(202)的电压值大小使稀土玻璃所处磁场大小改变，重复步骤(1)及步骤(2)，通过至少两次测量，求平均值得到费尔德常数测量值。
2.根据权利要求1所述的基于稀土玻璃费尔德系数光谱测量系统的测量方法，其特征在于：所述步骤(2)中通过光谱仪(108)可直接得到光谱干涉条纹包括：调整双折射晶体(105)的快轴或慢轴成与线偏振光产生器的偏振方向重合；检偏器(106)与双折射晶体(105)的快轴或慢轴成45度夹角，分束器输出光经第一反射镜及第二反射后合束形成干涉条纹。
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