[发明专利]使用稀疏转移集合转移校准模型有效

专利信息
申请号: 201710637656.8 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN107664532B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: C.熊;孙岚;C.G.佩德森 申请(专利权)人: 唯亚威通讯技术有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G06F17/17
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 陆建萍;杨明钊
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 使用 稀疏 转移 集合 校准 模型
【说明书】:

设备可以获取与主仪器的主校准模型相关联的主校准集合,该主校准集合包括与样本的集合相关联的、由主仪器生成的光谱。所述设备可以基于主校准集合来识别主校准物的选定集合。所述设备可以获取目标校准物的选定集合,该目标校准物的选定集合包括与样本的集合的子集相关联的、由目标仪器生成的光谱。所述设备可以基于主校准物的选定集合和目标校准物的选定集合来创建转移集合。所述设备可以基于转移集合创建与主校准集合对应的目标校准集合。所述设备可以基于目标校准集合使用与转移集合相关联的优化技术以及支持向量回归建模技术为目标仪器生成转移的校准模型。

背景技术

光谱仪可以配置有用于校准由光谱仪执行的光谱测量的校准模型。校准模型通常是基于与已知样本对应的参考光谱和与已知样本对应的、由光谱仪测得的光谱而生成。

发明内容

根据一些可以的实施方式,设备可以包括一个或多个处理器,以:获取与主仪器的主校准模型相关联的主校准集合,其中该主校准集合可以包括与样本的集合相关联的、由主仪器生成的光谱;基于主校准集合识别主校准物的选定集合,其中该主校准物的选定集合可以包括与样本的集合的子集相关联的光谱;获取与目标仪器相关联的目标校准物的选定集合,其中该目标校准物的选定集合可以包括与样本的集合的子集相关联的、由目标仪器生成的光谱;基于主校准物的选定集合和目标校准物的选定集合创建转移集合,其中该转移集合可以与样本的集合的子集相关联;基于转移集合创建与主校准集合对应的目标校准集合;以及基于支持向量回归建模技术、基于目标校准集合生成与目标仪器相关联的转移的校准模型,其中该转移的校准模型可以使用与转移集合相关联的优化技术来生成。

根据一些可以的实施方式,非暂态计算机可读介质可以存储指令,当该指令由一个或多个处理器执行时,使得一个或多个处理器:获取与主仪器的主校准模型相关联的主校准集合,主校准集合包括与样本的集合相关联的光谱,其中该光谱由主仪器基于扫描样本的所述集合而生成;基于主校准集合识别主校准物的选定集合;获取与目标仪器相关联的、与主校准物的选定集合对应的目标校准物的选定集合;基于主校准物的选定集合和目标校准物的选定集合创建稀疏转移集合,其中该稀疏转移集合与样本的集合的五个或更少样本相关联;基于稀疏转移集合生成转移矩阵;使用转移矩阵创建与主校准集合对应的目标校准集合;以及基于目标校准集合生成与目标仪器相关联的转移的校准模型,其中该转移的校准模型是使用与稀疏转移集合相关联的优化技术来生成。

根据一些可以的实施方式,一种方法可以包括:由设备获取与第一仪器的第一校准模型相关联的第一校准集合,第一校准集合包括与样本的集合相关联的、基于第一仪器对样本的集合的扫描而生成的光谱;由设备识别第一校准集合的校准物的第一选定集合,其中该校准物的第一选定集合与样本的集合的包括五个或更少样本的子集对应;由设备获取与第二仪器相关联的校准物的第二选定集合,其中该校准物的第二选定集合包括与样本的子集相关联的、基于由第二仪器对样本的子集的扫描而生成的光谱;由设备基于校准物的第一选定集合和校准物的第二选定集合来创建转移集合,其中该转移集合与样本的子集对应;由设备基于转移集合创建与第一校准集合对应的第二校准集合;以及由设备并且基于第二校准集合,生成与第二仪器相关联的第二校准模型,其中该第二校准模型是基于支持向量回归建模技术来生成,并且其中该第二校准模型是使用与转移集合相关联的优化技术来生成。

附图说明

图1A和1B是本文描述的示例实施方式的概述的图;

图2是其中可以实施本文描述的系统和/或方法的示例环境的图;

图3是图2的一个或多个设备的示例组件的图;

图4是使用稀疏转移集合将主校准模型从主仪器转移到目标仪器的示例处理的流程图;以及

图5A-5C是示出建模设备可以执行移位网格插值以便增强与转移主校准模型相关联的主校准集合的方式的图。

具体实施方式

以下示例实施方式的详细描述参考附图。不同附图中的相同标号可以标识相同或相似的元件。

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