[发明专利]一种用于消除离面位移影响的高温应变测量方法有效

专利信息
申请号: 201710638786.3 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN107643213B 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 何顶顶;郑成林;费庆国 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/06
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210096 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 消除 位移 影响 高温 应变 测量方法
【权利要求书】:

1.一种用于消除离面位移影响的高温应变测量方法,其特征在于:包括以下步骤:

步骤1、将试件固定安装在高温加载平台上,利用耐高温材料在试件表面制作随机散斑;

步骤2、固定好两台相机,两台相机镜头平面与试件表面平行,两台相机离试件的距离分别为L1,L2,其中L1≠L2

步骤3、对试件进行加载,记录加载温度T及载荷P,同时用两台相机采集试件在加载前后的散斑图;

步骤4、将两台相机采集的散斑图输入计算机,用二维数字图像相关方法计算其中一个相机中散斑图的应变ε1,然后利用二维数字图像相关方法将两个相机中的散斑图匹配,再由数字图像相关方法计算另一个相机中散斑图对应点的应变ε2

步骤5、通过两个相机的物距L1,L2,和测得的应变ε12,可以消除离面位移引起的虚应变,进而得到试件因加载而产生的真实应变ε。

2.根据权利要求1所述的一种用于消除离面位移影响的高温应变测量方法,其特征在于:所述步骤5描述为:

其中,其中ε12分别为两个相机中测得的应变,L1,L2为两个相机的物距,ε为试件因加载而产生的真实应变。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710638786.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top