[发明专利]一种用于消除离面位移影响的高温应变测量方法有效
申请号: | 201710638786.3 | 申请日: | 2017-07-31 |
公开(公告)号: | CN107643213B | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 何顶顶;郑成林;费庆国 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/06 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 210096 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 消除 位移 影响 高温 应变 测量方法 | ||
1.一种用于消除离面位移影响的高温应变测量方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1、将试件固定安装在高温加载平台上,利用耐高温材料在试件表面制作随机散斑;
步骤2、固定好两台相机,两台相机镜头平面与试件表面平行,两台相机离试件的距离分别为L1,L2,其中L1≠L2;
步骤3、对试件进行加载,记录加载温度T及载荷P,同时用两台相机采集试件在加载前后的散斑图;
步骤4、将两台相机采集的散斑图输入计算机,用二维数字图像相关方法计算其中一个相机中散斑图的应变ε1,然后利用二维数字图像相关方法将两个相机中的散斑图匹配,再由数字图像相关方法计算另一个相机中散斑图对应点的应变ε2;
步骤5、通过两个相机的物距L1,L2,和测得的应变ε1,ε2,可以消除离面位移引起的虚应变,进而得到试件因加载而产生的真实应变ε。
2.根据权利要求1所述的一种用于消除离面位移影响的高温应变测量方法,其特征在于:所述步骤5描述为:
其中,其中ε1,ε2分别为两个相机中测得的应变,L1,L2为两个相机的物距,ε为试件因加载而产生的真实应变。
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