[发明专利]一种Mark点视觉识别方法

权利要求书

1.一种Mark点视觉识别方法，其特征在于，所述方法应用于印制电路板上Mark点识别定位，所述方法包括：

采集疑似目标的图像，并生成疑似目标结果集，所述疑似目标与所述Mark点的几何特征相同；

根据所述Mark点的标准模板分别计算所述疑似目标结果集中每个疑似目标的缩放参数和旋转参数；

利用所述缩放参数和旋转参数校正所述标准模板，获得与所述每个疑似目标一一对应的校正模板；

将所述每个疑似目标分别与所述校正模板一一对应进行匹配，并分别记录匹配值得到匹配值集合；

确定所述匹配值集合中最佳匹配值对应的疑似目标为所述Mark点，所述最佳匹配值为属于最佳匹配值范围内的匹配值。

2.根据权利要求1所述的Mark点视觉识别方法，其特征在于，所述Mark点的几何特征包括：第一特征、第二特征以及第三特征，所述第一特征在所述第二特征内部，所述第二特征在所述第三特征内部，且所述第一特征、第二特征以及第三特征的中心相同；

所述第一特征为实心圆，所述第二特征为N边形轮廓，所述第三特征为圆形轮廓，所述N为大于或等于3的正整数。

3.根据权利要求2所述的Mark点视觉识别方法，其特征在于，所述采集疑似目标的图像包括：

依次根据所述Mark点的所述第一特征、第二特征以及第三特征搜索所述疑似目标，并采集所述疑似目标的图像。

4.根据权利要求3所述的Mark点视觉识别方法，其特征在于，所述采集疑似目标的图像包括：

将所述疑似目标的几何特征与所述第一特征、第二特征以及第三特征依次进行匹配，并在所述疑似目标的几何特征与所述第一特征、第二特征以及第三特征依次匹配时确定采集所述疑似目标的图像。

5.根据权利要求4所述的Mark点视觉识别方法，其特征在于，若所述疑似目标的几何特征与所述第一特征匹配，与所述第二特征不匹配，则不将所述疑似目标的几何特征与所述第三特征进行匹配，且确定所述疑似目标非所述Mark点；

若所述疑似目标的几何特征与所述第一特征不匹配，则不将所述疑似目标的几何特征与所述第二特征和第三特征进行匹配，且确定所述疑似目标非所述Mark点。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的Mark点视觉识别方法，其特征在于，所述疑似目标的几何特征包括：第一疑似特征、第二疑似特征以及第三疑似特征，所述第一疑似特征在所述第二疑似特征的内部，所述第二疑似特征在所述第三疑似特征内部，且所述第一疑似特征、第二疑似特征以及第三疑似特征的中心相同，所述第一疑似特征为类圆形实心形状，所述第二疑似特征为多边框形形状，所述第三疑似特征为类圆形状。

7.根据权利要求6所述的Mark点视觉识别方法，其特征在于，所述依次确定所述疑似目标的几何特征与所述第一特征、第二特征以及第三特征匹配包括：

绕所述第一疑似特征的中心旋转，每间隔2π/N计算一次所述第一疑似特征的边缘至中心的距离，若M次计算得到的结果在误差范围内相同，则确定所述第一疑似特征为实心圆形，所述第一疑似特征与所述第一特征匹配，所述M与所述N数值相等；

绕所述第二疑似特征的中心旋转，每间隔2π/N计算一次所述第二疑似特征的边缘至中心的距离，若所述M次计算得到的结果在所述误差范围内相同，则确定所述第二疑似特征为N边形，所述第二疑似特征与所述第二特征匹配；

绕所述第三疑似特征的中心旋转，每间隔2π/N计算一次所述第三疑似特征的边缘至中心的距离，若所述M次计算得到的结果在所述误差范围内相同，则确定所述第三疑似特征为圆形，所述第三疑似特征与所述第三特征匹配。