[发明专利]一种扩散膜遮瑕性的测试方法在审
申请号: | 201710642755.5 | 申请日: | 2017-07-31 |
公开(公告)号: | CN107271153A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 赖春桃;周福新;林文峰 | 申请(专利权)人: | 信利半导体有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司44102 | 代理人: | 邓义华,廖苑滨 |
地址: | 516600 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 扩散 膜遮瑕性 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及背光检测技术领域,特别是涉及了一种扩散膜遮瑕性的测试方法。
背景技术
背光的薄型化及高亮要求,及无边框背光的出现会导致背光异物较普通背光增多,另外如果搭配复合膜其雾度胶普通增加低,因此需搭配高雾度的扩散膜。因此各家扩散制造上纷纷推出高遮瑕性的扩散膜,但目前对于扩散膜遮瑕性没有很好的测试方法,而若扩散膜遮瑕性不足,则会导致如下问题:(1)导光板网点的规律排布,经点亮后因遮瑕性不足导致背光及模组可见规律纹路;(2)背光异物,因遮瑕性不足导致透点,亮点。
因此,需要提供一种测试方法可为扩散膜的开发导入提供标准。
发明内容
为了弥补已有技术的缺陷,本发明提供一种扩散膜遮瑕性的测试方法。
本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现:
一种扩散膜遮瑕性的测试方法,包括以下步骤:
S1.制作雾度卡:在透明基材上丝印若干个矩阵排列的图案,所述图案包括若干横排及若干竖排,各横排之间的图案大小不同,各横排还设有表示该图案等级的标记;
S2.将上述雾度卡置于平面光源上,所述平面光源在雾度卡的下方照射雾度卡;
S3.将所需测试的扩散膜置于雾度卡上;
S4:观察扩散膜上所能看到的图案,根据所能观察到的最小的图案对应的标记即为该扩散膜的遮瑕水平。
进一步地,所述透明基材为菲林片。
进一步地,所述图案为圆点或字符。
进一步地,所述图案为白色或黑色。
进一步地,所述平面光源是背光源或灯箱。
进一步地,所述步骤S3为:在所需测试的扩散膜上贴附设置增光膜获得复合膜,将复合膜置于雾度卡上。
本发明具有如下有益效果:
本发明通过观察扩散膜上所能看到的图案,根据所能观察到的最小的图案对应的标记即可测试扩散膜的遮瑕性,测试方便快速,成本低。
附图说明
图1为本发明雾度卡的结构示意图。
图中:1、透明基材,2、图案,3、标记。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明,实施例仅是本发明的优选实施方式,不是对本发明的限定。
一种扩散膜遮瑕性的测试方法,包括以下步骤:
S1.制作雾度卡:在透明基材上丝印若干个矩阵排列的图案,所述图案包括若干横排及若干竖排,各横排之间的图案大小不同,各横排还设有表示该图案等级的标记;优选地,在所述透明基材上从上至下各横排之间的图案依次减小,而每横排上的图案大小相同;优选地,所述图案为圆点或字符,但不局限于此;所述图案为白色或黑色,更优选为黑色。更优选地,所述图案为圆点,矩阵排列的圆点包括11个横排和11个竖排,在所述透明基材上从上至下各横排的圆点的半径分别为:0.30mm、0.20mm、0.10mm、0.08mm、0.07mm、0.06mm、0.05mm、0.04mm、0.03mm、0.02mm、0.01mm,各横排还设有表示该图案等级的数字标记,所述透明基材优选为菲林片,其图案的精准度更好,使用寿命更长。
S2.将上述雾度卡置于平面光源上,所述平面光源在雾度卡的下方照射雾度卡。所述平面光源优选为背光源或灯箱,但不局限于此。
S3.将所需测试的扩散膜置于雾度卡上;或者在所需测试的扩散膜上贴附设置增光膜获得复合膜,将复合膜置于雾度卡上。
S4:观察扩散膜上所能看到的图案,根据所能观察到的最小的图案对应的标记即为该扩散膜的遮瑕水平。
需要说明的是,该测试方法同样适用于具有遮瑕功能的增光膜和偏光片。
以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制,但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案,均应落在本发明的保护范围之内。
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