[发明专利]一种基于虚拟仪器技术的Profibus总线绝缘性能测试方法有效
申请号: | 201710645684.4 | 申请日: | 2017-08-01 |
公开(公告)号: | CN107643476B | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 李龙飞;丁美宙;刘欢;李春光;顾亮;李全胜;王海滨;孙觅 | 申请(专利权)人: | 河南中烟工业有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 | 代理人: | 时立新 |
地址: | 450000 河南*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 虚拟仪器 技术 profibus 总线 绝缘 性能 测试 方法 | ||
1.一种基于虚拟仪器技术的Profibus总线绝缘性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
A、记录待测总线信息:统计所有待测工业Profibus总线线缆所属工厂、车间、生产线类型、设备、总线类型以及位置编号属性信息,并将上述属性信息录入安装虚拟仪器软件LabVIEW的PXI工控机内,利用虚拟仪器软件LabVIEW存储测试对象属性信息;
B、配置相应测试通道:选择一条待测工业Profibus总线线缆作为测试对象接入PXI工控机的测试接口,针对测试对象的绝缘层、高电平线缆、低电平线缆和终端匹配电阻,分别配置相应的测试通道,并利用虚拟仪器软件LabVIEW控制测试通道的通断切换;
C、配置数字万用表卡:将PXI数字万用表卡接入PXI工控机并连接测试通道,通过虚拟仪器软件LabVIEW实现PXI数字万用表卡的参数配置、初始化和数据采集,使PXI数字万用表卡依次对测试对象的绝缘层、高电平线缆、低电平线缆以及终端匹配电阻的阻抗信息进行数字化测量;所述的步骤C中,当对PXI数字万用表卡进行初始化时,首先检测测试对象是否带电,当测试对象不带电时,依次对测试对象的绝缘层、高电平线缆、低电平线缆以及终端匹配电阻的阻抗信息进行数字化测量,当测试对象带电时,先将PXI数字万用表卡配置为电压测试模式,对测试对象的电压进行阶梯化测量,直至确认测试对象不带电后,依次对测试对象的绝缘层、高电平线缆、低电平线缆以及终端匹配电阻的阻抗信息进行数字化测量;
D、获取稳态阻抗信息:对PXI数字万用表卡的测量数据进行预判,截取稳态有效数据进行加权处理,获得测试对象的稳态阻抗信息,将其存储至虚拟仪器软件LabVIEW的数据库中;
E、显示测试预警信息:根据测试对象的稳态阻抗信息,分析测试对象的绝缘性能并生成预警信息,对应测试对象的属性信息,在虚拟仪器软件LabVIEW的显示界面实时显示测试对象的稳态阻抗信息和预警信息。
2.如权利要求1所述的一种基于虚拟仪器技术的Profibus总线绝缘性能测试方法,其特征在于:所述的步骤A中,对于所有待测工业Profibus总线线缆所属工厂、车间、生产线类型、设备、总线类型以及位置编号信息,采用虚拟仪器软件LabVIEW平台下的XML语言数据格式进行存储,并通过层级式的树状结构展示测试对象的属性信息。
3.如权利要求1所述的一种基于虚拟仪器技术的Profibus总线绝缘性能测试方法,其特征在于:所述的步骤B中,采用PXI数字量输入输出卡和由达林顿管驱动的继电器阵列配置相应的测试通道,所述的PXI数字量输入输出卡输出继电器阵列的驱动信号,当需测量测试对象的绝缘层、高电平线缆、低电平线缆或者终端匹配电阻的阻抗信息时,利用虚拟仪器软件LabVIEW控制PXI数字量输入输出卡输出驱动信号,使相应的测试通道上的继电器吸合,则相应的测试通道导通。
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