[发明专利]电容测量辅助装置、电容测量系统及方法在审
申请号: | 201710648841.7 | 申请日: | 2017-08-01 |
公开(公告)号: | CN107543971A | 公开(公告)日: | 2018-01-05 |
发明(设计)人: | 樊强 | 申请(专利权)人: | 新华三技术有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人: | 王术兰 |
地址: | 310052 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 测量 辅助 装置 系统 方法 | ||
1.一种电容测量辅助装置,其特征在于,所述装置包括:
电容接入电路,所述电容接入电路包括电容接口、充电接口以及测量接口,其中,电容接口用于接入待测电容的、充电接口用于与充电电源连接以对所述待测电容进行充电、测量接口用于与测量装置连接以对所述待测电容的电容参数进行测量;
控制单元,用于分别与所述测量装置以及电容接入电路连接,控制所述电容接入电路的电容接口与所述充电接口或所述测量接口电性连通,并获取所述测量装置测得的待测电容的电容参数;其中,所述待测电容充电饱和后,所述控制单元控制所述电容接口与所述测量接口电性连通,以对所述待测电容进行测量。
2.根据权利要求1所述的电容测量辅助装置,其特征在于,所述电容接入电路还包括与所述控制单元以及所述电容接口对应连接的选择开关,多个所述选择开关分别与所述控制单元连接,在所述控制单元的控制下选择相应的电容接口与所述充电接口或所述测量接口电性连通。
3.根据权利要求2所述的电容测量辅助装置,其特征在于,所述控制单元包括主控模块及通道选择模块;
所述主控模块分别与所述通道选择模块及测量装置连接,用于向所述通道选择模块发送通道选择信号,并获取所述测量装置测得的待测电容的电容参数;
所述通道选择模块包括分别与所述选择开关连接的多个输出接口,所述通道选择模块根据所述主控模块发送的通道选择信号,通过相应的输出接口向所述选择开关发送控制信号,控制对应的电容接口与所述测量接口电性连通,以通过测量装置对该电容接口接入的待测电容进行测量。
4.根据权利要求3所述的电容测量辅助装置,其特征在于,所述通道选择信号为脉冲信号;所述通道选择模块包括计数子模块及具有多个输出接口的译码子模块,所述译码子模块的输出接口作为所述通道选择模块的输出接口;
所述计数子模块与所述主控模块连接,对所述主控模块发送的脉冲信号进行计数,并将计数值发送给所述译码子模块;
所述译码子模块对接收到的所述计数值进行译码后通过所述输出接口向对应的选择开关输出控制信号。
5.根据权利要求3所述的电容测量辅助装置,其特征在于,所述通道选择信号为串行数字信号;所述通道选择模块包括具有多个输出接口的可编程逻辑控制器,所述可编程逻辑控制器的输出接口作为所述通道选择模块的输出接口;
所述可编程逻辑控制器接收所述主控模块发送的通道选择信号,通过所述输出接口向对应的选择开关输出控制信号。
6.根据权利要求2-5任意一项所述的电容测量辅助装置,其特征在于,所述控制单元用于控制所述选择开关使所有电容接口与所述充电接口电性连通,以对接入所述电容接口的待测电容进行批量充电;
在所述待测电容充电饱和后,所述控制单元控制选择开关使所述电容接口逐个与所述测量接口电性连通,以对分别接入多个所述电容接口的待测电容逐个进行测量。
7.根据权利要求1所述的电容测量辅助装置,其特征在于,所述控制单元还用于与所述充电电源连接,用于向所述充电电源发送电压调节指令,以调整所述充电电源向所述电容接口输出的电压。
8.根据权利要求1所述的电容测量辅助装置,其特征在于,所述电容接口还包括放电电路;所述控制单元在所述电容接口接入的待测电容完成测量时,控制该电容接口与所述放电电路接通,以对待测电容进行放电。
9.一种电容测量系统,其特征在于,所述系统包括:电容接入电路、充电电源、测量装置及控制单元;
所述电容接入电路包括用于接入待测电容的电容接口;
所述充电电源用于对所述待测电容进行充电;
所述测量装置用于对所述待测电容的电容参数进行测量;
所述控制单元用于分别与所述测量装置以及电容接入电路连接,控制所述电容接入电路的电容接口与所述充电电源或所述测量装置电性连通,并获取所述测量装置测得的待测电容的电容参数;其中,所述待测电容充电饱和后,所述控制单元控制所述电容接口与所述测量装置电性连通,以对所述待测电容进行测量。
10.一种电容测量方法,其特征在于,应用于权利要求1-9任意一项所述的电容测量辅助装置,所述方法包括:
所述控制单元控制所述电容接入电路的所有电容接口与所述充电接口电性连通,以对分别接入所述电容接口的多个待测电容进行批量充电;
在充电时长达到预设时长后,控制所述电容接口逐个与所述测量接口电性连通,以对分别接入所述电容接口的多个待测电容的电容参数逐个进行测量。
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