[发明专利]信号眼图分析设备及方法在审
| 申请号： | 201710650321.X | 申请日： | 2017-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN109388811A | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 朱清;黄婷婷;孙君;王太诚 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（武汉）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G01R31/00;G01R23/16 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 郑杏芳 |
| 地址： | 430205 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 信号眼图 分析 分析设备 眼图模板 分析模块 加载模块 判断模块 选取模块 加载 测试分析 工作量 测试 | ||
1.一种信号眼图分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
加载待分析波形及眼图模板库；
从所述已加载的待分析波形中选取当前分析波形；
判断所述当前分析波形的类型及速率；及
根据所述当前分析波形的类型及速率从所述眼图模板库中选取对应的眼图模板对所述当前分析波形进行眼图分析。
2.如权利要求1所述的信号眼图分析方法，其特征在于，所述信号眼图分析方法还包括：
在所述当前分析波形分析结束后，从已加载的所述待分析波形中选取下一个波形进行眼图分析，直到全部所述待分析波形分析结束。
3.如权利要求2所述的信号眼图分析方法，其特征在于，所述信号眼图分析方法还包括：
在全部所述待分析波形分析结束之后，根据分析后的眼图数据生成分析报表。
4.如权利要求1所述的信号眼图分析方法，其特征在于，所述判断所述当前分析波形的类型的步骤包括：
判断所述当前分析波形的类型为PCIE时钟信号或者SATA时钟信号。
5.如权利要求1所述的信号眼图分析方法，其特征在于，所述信号眼图分析方法还包括：
截取眼图分析结果图片并保存分析后的眼图数据。
6.一种信号眼图分析设备，包括加载模块，所述加载模块用于加载待分析波形及眼图模板库，其特征在于，所述信号眼图分析设备还包括：
选取模块，用于从所述已加载的待分析波形中选取当前分析波形；
判断模块，用于判断所述当前分析波形的类型及速率；及
分析模块，用于根据所述当前分析波形的类型及速率从所述眼图模板库中选取对应的眼图模板对所述当前分析波形进行眼图分析。
7.如权利要求6所述的信号眼图分析设备，其特征在于，所述选取模块还用于在所述当前分析波形分析结束后，从已加载的所述待分析波形中选取下一个波形进行眼图分析，直到全部所述待分析波形分析结束。
8.如权利要求7所述的信号眼图分析设备，其特征在于，还包括生成模块，用于在全部所述待分析波形分析结束之后，根据分析后的眼图数据生成分析报表。
9.如权利要求6所述的信号眼图分析设备，其特征在于，所述判断模块用于判断所述当前分析波形的类型为PCIE类型或者SATA类型。
10.如权利要求6所述的信号眼图分析设备，其特征在于，还包括截取保存模块，用于截取眼图分析结果图片并保存分析后的眼图数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密工业（武汉）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司，未经鸿富锦精密工业（武汉）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710650321.X/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
