[发明专利]质谱仪在审
申请号: | 201710651817.9 | 申请日: | 2017-08-02 |
公开(公告)号: | CN109390201A | 公开(公告)日: | 2019-02-26 |
发明(设计)人: | 孙延锋;姜杰;顾大伟 | 申请(专利权)人: | 天源华威集团有限公司 |
主分类号: | H01J49/02 | 分类号: | H01J49/02 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 谈杰 |
地址: | 212000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 质谱仪 离子阱 功率MOSFET驱动器 离子状态控制装置 离子选择装置 功率MOSFET 功率放大器 使用寿命 电连 变压器 | ||
本发明公开了一种质谱仪,包括MCU、D/A变换器、功率放大器、功率MOSFET、功率MOSFET驱动器、变压器、离子状态控制装置、离子选择装置、离子阱,相互间电连。本发明质谱仪为数字离子阱,运行可靠,使用寿命长。
技术领域
本发明涉及一种质谱仪。
背景技术
离子阱质谱仪最初是模拟电子技术方式的,例如四极杆离子阱质谱仪。驱动离子阱的电压信号是模拟信号方式的,是交流变化的电压信号。这种质谱仪的测量范围和测量精度也是很高的。上个世纪七十年代,随着数字电子技术的逐渐兴起,数字离子阱质谱仪逐渐兴起。由于半导体技术的制约,数字离子阱质谱仪一直处在实验研究的阶段,并没有形成一个稳定的市场。目前数字离子阱普遍采用的是2000V的高电压开关驱动方式,这种方法的EMC和EMI干扰很强,经常引起自身电子电路和周围其它电子仪器的故障,而且这种高压电子开关经常损坏。
发明内容
本发明的目的在于:为解决以上问题提供一种运行可靠的、使用寿命长的、功能更强大的质谱仪。
本发明采用的技术方案是这样的:
一种质谱仪,包括控制器、D/A变换器、功率放大器、功率MOSFET、功率MOSFET驱动器、变压器、离子状态控制装置、离子选择装置、离子阱,所述控制器与D/A变换器相连接,D/A变换器和功率放大器连接,功率放大器接变压器初级的A引脚,功率MOSFET的一端连接到变压器的初级的B引脚,功率MOSFET另一端连接到直流电源地,功率MOSFET的控制端连接到控制器,离子状态控制装置与控制器相连接,离子状态控制装置与离子选择装置相连接,离子选择装置与离子阱相连接,离子状态控制装置与离子阱相连接。
进一步地,所述控制器为DSP或MCU或FPGA。
进一步地,所述变压器可由互感线圈替换。
综上所述,由于采用上述技术方案,本发明的有益效果是:
本发明采用脉冲方波数字方式的离子阱驱动电压,由于脉冲方波的占空比是可以调整的,所以这种质谱仪有其它类型质谱仪所不能实现的功能,也是其他质谱仪所不能替代的,运行稳定可靠,使用寿命长。
附图说明
图1为本发明的结构连接图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细说明。
如图1所示,控制器与D/A变换器相连接,数字信号从控制器输出到D/A变换器,变成模拟信号,这个模拟信号通过功率放大器变成变压器初级的驱动信号,连接变压器初级的A引脚,功率MOSFET的一端连接到变压器或者互感线圈的初级的B引脚,功率MOSFET另一端连接到直流电源地,功率MOSFET的控制端连接到MOSFET驱动电路,MOSFET驱动电路连接到控制器,此功率MOSFET的导通与闭合由控制器输出的周期频率信号控制,离子状态控制装置与控制器相连接,实现离子的引入和离子的出射及离子的选择,离子选择装置与离子阱在机械结构上相连接,离子选择装置与控制器相连接,离子状态控制装置与离子阱相连接。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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