[发明专利]单键开关寿命测试机在审

专利信息
申请号: 201710654447.4 申请日: 2017-08-03
公开(公告)号: CN107478984A 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 吴义;王大庆 申请(专利权)人: 江苏博悦物联网技术有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327;G01M13/00
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 代理人: 郭栋梁
地址: 226300 江苏省南通市通州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 单键 开关 寿命 测试
【权利要求书】:

1.一种单键开关寿命测试机,其特征在于,包括:

机架和设置在所述机架上的测试台,所述测试台的表面设有用于放置待测开关的测试工位;

所述机架内设有电机以及与所述电机相连的转轴,所述转轴上连接有至少两个直线往复机构,所述转轴经其连接的直线往复机构连接测头安装板,所述测头安装板上设置有一个安装孔,所述安装孔内安装一根测试头,所述测试头与所述测试孔螺纹连接,所述测试头正对所述测试工位,所述测试台上设有供所述直线往复机构直线移动的第一导向孔;

所述机架上还设有计数器以及与所述计数器相连的行程开关。

2.根据权利要求1所述的单键开关寿命测试机,其特征在于,所述直线往复机构包括曲柄连杆机构,其包括设置在转轴上的曲柄、与所述曲柄相连的第一连杆以及与所述第一连杆相连的第二连杆;

所述第二连杆通过所述第一导向孔沿竖直方向上下升降。

3.根据权利要求2所述的单键开关寿命测试机,其特征在于,

与所述转轴相连的曲柄连杆机构之一的第一连杆表面设有第一凸伸部,所述第一凸伸部凸伸于所述行程开关的上方,所述第一凸伸部与所述行程开关的触头可接触或分离。

4.根据权利要求1所述的单键开关寿命测试机,其特征在于,所述直线往复机构包括凸轮机构,其包括设置在转轴上的凸轮以及与所述凸轮相配合的从动杆件;

所述从动杆件通过所述第一导向孔沿竖直方向上下升降。

5.根据权利要求4所述的单键开关寿命测试机,其特征在于,

与所述转轴相连的凸轮机构之一的从动杆件的表面设有第二凸伸部,所述第二凸伸部凸伸于所述行程开关的上方,所述第二凸伸部与所述行程开关的触头可接触或分离。

6.根据权利要求1所述的单键开关寿命测试机,其特征在于,所述测试头为橡胶测试头。

7.根据权利要求1所述的单键开关寿命测试机,其特征在于,还包括导向机构,所述导向机构包括:

设置在所述测试台上的立柱以及设置在所述测头安装板上的正对所述立柱的第二导向孔;

所述第二导向孔内设有与所述立柱间隙配合的上大下小的凸台式导向筒,所述导向筒包括设有第一通孔的上筒体和与所述上筒体相连的设有第二通孔的下筒体;

所述第一通孔和所述第二通孔同心且直径相同;

所述上筒体的高度小于所述下筒体的高度。

8.根据权利要求7所述的用于单键开关寿命测试机,其特征在于,所述上筒体为方形筒体或圆形筒体,所述下筒体为圆形筒体;在所述导向筒的轴中心截面上,所述上筒体的宽度大于所述下筒体的宽度;所述上筒体位于所述第二导向孔上方,所述下筒体位于所述第二导向孔内且伸出于所述下筒体下方。

9.根据权利要求8所述的用于单键开关寿命测试机,其特征在于,所述下筒体与所述上筒体为一体成型结构。

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