[发明专利]一种基于非平衡式双触点开关的信号检测方法

说明书

本发明涉及微电子信号检测技术领域，特别涉及一种基于非平衡式双触点开关的信号检测方法。该方法采用双触点开关，该双触点开关包括非金属弹性压片，非金属弹性压片中间与铰接支撑点相铰接，非金属弹性压片两端分别与滑动触点A和滑动触点B相连接；在双触点开关滑动过程中，滑动触点A和滑动触点B受非金属弹性压片作用压在静触点上。本发明实现了能够有效避免或减少机械触点开关抖动干扰，显著提高机械触点开关运动触点的时间和位置控制检测精度，避免或大幅度缩短采样时间差，可应用在直线滑动或转动滑动的位置精确控制，可靠性及控制精度较常规机械触点开关大大提高。

技术领域：

本发明涉及微电子信号检测技术领域，特别涉及一种基于非平衡式双触点开关的信号检测方法。

背景技术：

伴随着微电子智能控制的发展，各种传感信号的采集和处理变得越来越重要，尤其是对运动部件的位置或时间点检测精度要求越来越高。常规的机械触点开关在运动过程中不可避免的产生抖动，当单触点开关运动在有效连通区时，由于抖动的存在使某一时刻采样点信息容易被误判为开关已经运动到有效连通区域临界点，造成位置判断错误。此外，对于常规的单触点机械开关输入检测而言，其结构原理的特性决定了软件处理抖动信号时会产生时间差，尽管这个时间差可能极短暂，但是对于某些精确控制而言，这样的控制精度是不够的。

发明内容：

本发明要解决的技术问题是提供一种基于非平衡式双触点开关的信号检测方法，该方法实现了能够有效避免或减少机械触点开关抖动干扰，显著提高机械触点开关运动触点的时间和位置控制检测精度，避免或大幅度缩短采样时间差，可应用在直线滑动或转动滑动的位置精确控制，可靠性及控制精度较常规机械触点开关大大提高。克服了现有单触点开关存在抖动干扰，易造成位置判断错误，存在抖动不定时间差，运动触点检测精度差的不足。

本发明所采取的技术方案是：一种基于非平衡式双触点开关的信号检测方法，该方法采用双触点开关，该双触点开关包括非金属弹性压片，非金属弹性压片中间与铰接支撑点相铰接，非金属弹性压片两端分别与滑动触点A和滑动触点B相连接；在双触点开关滑动过程中，滑动触点A和滑动触点B受非金属弹性压片作用压在静触点上，当一边滑动触点抖动翘起时非金属弹性压片对另外一边的滑动触点产生推压作用，使另外一边的滑动触点压靠到静触点上，保证任意时刻至少有一个滑动触点接触到滑动表面；信号检测采样时，滑动触点A和滑动触点B分别连接信号输入端，当任意端滑动触点发生电平突变时，触发系统采样程序对另外一端的滑动触点进行检测，当滑动触点A和滑动触点B与静触点的连接状态相反时，双触点开关仍处于连通状态，此时为抖动干扰；当两端滑动触点的状态均采样为断开状态时，且在设定采样间隔时间内多次重复采样均保持断开状态则认为双触点开关逻辑上处于断开状态，逻辑上判断首次出现连续断开状态信号时，即设定为起点或终点。

本发明的有益效果是：本发明实现了能够有效避免或减少机械触点开关抖动干扰，显著提高机械触点开关运动触点的时间和位置控制检测精度，避免或大幅度缩短采样时间差，可应用在直线滑动或转动滑动的位置精确控制，可靠性及控制精度较常规机械触点开关大大提高。

附图说明：

下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步详细的说明。

图1为双触点开关的结构示意图。

具体实施方式：