[发明专利]一种基站的数字逻辑电路检测方法和装置

说明书

本发明实施例提供了一种基站的数字逻辑电路检测方法和装置，所述基站包括子帧计数器，所述方法包括：从用例库加载多个子帧数据包；依据子帧计数器确定所述子帧数据包中待检测的子帧；针对所述子帧进行检测；获得所述子帧的检测结果，根据用例情况，调整子帧计数宽度，迅速实现对应子帧的快速仿真功能，自动缩减子帧中没有检测任务的子帧的时长；支持总线功能，简化仿真顶层文件，使其具有通过数据总线与验证环境连接的作用。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，特别是涉及一种基站的数字逻辑电路检测方法和一种基站的数字逻辑电路检测装置。

背景技术

LTE基站数字逻辑结构比较复杂，需求繁多，代码修改频繁，传统的仿真方法面临极大的挑战，每次仿真进行验证环境的搭建、启动仿真过程都花费大量的时间，人工修改也容易出错；并且每次代码进行微小的修改时的回归验证也非常繁琐，修改激励文件也容易出错。

目前基站的数字逻辑模块仿真时，验证环境包含在仿真顶层文件(Sim_tb_top)中，DUT需要的用例加载、激励产生和驱动等都是手动在该文件中编写的，手动修改容易出错，而且效率低下，很难保证基带逻辑仿真的高效性、可复用性和正确性。

目前的基站数字逻辑仿真，在搭建仿真模块(DUT，Device under test)的验证环境时需要手动拷贝该模块相关的所有文件，然后人工启动编译，容易因为误操作或者文件不齐全导致仿真出错。

目前的基站数字逻辑仿真，搭建的仿真模块(DUT)的仿真顶层文件(Sim_tb_top)，验证环境和DUT模块都在该文件中，仿真需要的所有代码都在该文件中，也没有根据功能代码和验证代码的方式对其分割，更没有根据功能进行分类，导致每次进行新的DUT模块仿真时，都要重新搭建，不同模块之间无法复用该部分代码，导致工作量大并且容易出错。

发明内容

本发明实施例提供一种基站的数字逻辑电路检测方法和一种基站的数字逻辑电路检测装置，以解决每次进行新的DUT模块仿真时，都需要重新搭建DUT模块，导致工作量大并且容易出错的上述问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种基站的数字逻辑电路检测方法，所述基站包括子帧计数器，所述方法包括：

从用例库加载多个子帧数据包；

依据子帧计数器确定所述子帧数据包中待检测的子帧；

针对所述子帧进行检测；

获得所述子帧的检测结果。

优选地，所述从用例库加载多个子帧数据包的步骤之前，还包括：

设置全局变量。

优选地，所述方法还包括：采用所述全局变量创建仿真顶层文件及验证环境。

优选地，所述依据子帧计数器确定所述子帧数据包中待检测的子帧的步骤包括：

设定所述子帧计数器中的计数长度；

在所述计数长度内确定待检测的子帧。

优选地，所述在所述计数长度内确定待检测的子帧的步骤包括：

按照仿真有效标识在所述计数长度内确定待检测的子帧。

优选地，所述方法还包括：

所述仿真顶层文件及所述验证环境通过数据总线进行连接。

本发明实施例还公开了一种基站的数字逻辑电路检测装置，所述基站包括子帧计数器，所述装置包括：

加载模块，用于从用例库加载多个子帧数据包；

确定模块，用于依据子帧计数器确定所述子帧数据包中待检测的子帧；