[发明专利]一种利用全聚焦技术测全元素含量的装置在审
申请号: | 201710663101.0 | 申请日: | 2017-08-05 |
公开(公告)号: | CN107238621A | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 刘小东 | 申请(专利权)人: | 深圳市华唯计量技术开发有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所11569 | 代理人: | 王加贵 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 聚焦 技术 元素 含量 装置 | ||
1.一种利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:包括腔体组件、滤光片切换组件、探测器组件、Cr靶管组件、弯晶组件、Ag靶管组件、支撑架、样品组件、Cr靶高压电源、Ag靶高压电源和气体发生装置,所述滤光片切换组件、探测器组件、Cr靶管组件和弯晶组件均固定连接在所述腔体组件上,所述Ag靶管组件固定连接在所述弯晶组件上,所述腔体组件固定在所述支撑架上,所述样品组件设置在所述腔体组件内,所述气体发生装置通过通气管与所述腔体组件连通,所述Cr靶高压电源与所述Cr靶管组件电连接,所述Ag靶高压电源与所述Ag靶管组件电连接。
2.根据权利要求1所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述滤光片切换组件包括驱动电机、滤光片支撑、挡光片、支撑板、光电开关和光电开关安装板,所述光电开关安装板、驱动电机和滤光片支撑均安装在支撑板上,所述支撑板固定连接在所述腔体组件上,所述滤光片支撑上设置有齿条和滤光片安装孔,所述光电开关安装在所述光电开关安装板上,所述挡光片安装在所述滤光片支撑上,并与所述滤光片支撑一起运动,同时与所述光电开关滑动接触,所述驱动电机的输出轴与一齿轮固定连接,所述齿轮与所述齿条啮合。
3.根据权利要求1所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述弯晶组件包括弯晶安装盒、弯晶、弯晶托板、晶体微调板、螺钉固定块、弹簧、晶体调节轴、密封法兰和螺钉,所述弯晶安装盒固定连接在所述腔体组件上,所述晶体固定在弯晶托板上,所述弯晶托板固定在所述晶体调节轴置于所述弯晶安装盒内部的一端上,所述晶体调节轴位于所述弯晶安装盒外部的一端与所述晶体微调板固定连接,所述晶体调节轴可以相对于所述弯晶安装盒转动,所述晶体调节轴与所述弯晶安装盒连接位置处设置有密封圈,所述密封圈外侧设置有密封法兰;所述晶体微调板的一侧对应位置设置所述螺钉固定块,所述螺钉固定块固定在所述弯晶安装盒外壁上;所述螺钉固定块上设置有第一螺纹孔,所述晶体微调板上设置有通孔,所述通孔位置与所述第一螺纹孔位置对应;所述螺钉依次穿过所述通孔、弹簧后,与第一螺纹孔螺纹连接。
4.根据权利要求3所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述弯晶组件还包括顶丝,所述晶体微调板上设置有第二螺纹孔,所述顶丝与所述第二螺纹孔螺纹连接,且其末端顶在所述螺钉固定块的侧面上。
5.根据权利要求4所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述螺钉与所述晶体调节轴的距离大于所述顶丝与所述晶体调节轴的距离。
6.根据权利要求1所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述探测器组件包括探测器、固定法兰和探测器保护帽,所述探测器通过所述固定法兰固定在所述腔体组件上,所述探测器保护帽安装在所述探测器前端的探测头上。
7.根据权利要求1所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述Cr靶管组件包括Cr靶光管和滤光片压板,所述滤光片压板安装在所述Cr靶光管上,所述Cr靶光管上固定的滤光片压板与所述腔体组件上的安装孔位置对应,所述Cr靶光管通过螺钉连接在所述腔体组件上;所述滤光片压板上设置密封圈和薄膜,通过所述密封圈和薄膜对所述腔体组件的内腔进行密封。
8.根据权利要求1所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述Ag靶管组件包括Ag靶管和光管连接件,所述Ag靶管通过所述光管连接件连接在所述弯晶组件上,连接处通过密封圈进行密封。
9.根据权利要求1-8任一项所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述腔体组件包括腔体和腔体盖,所述腔体盖通过螺钉连接在腔体的螺纹孔内,所述腔体和腔体盖的接触位置设置密封圈。
10.根据权利要求9所述的利用全聚焦技术测全元素含量的装置,其特征在于:所述样品组件包括样品杯和样品托,所述样品托固定在所述腔体内部,所述样品杯置于所述样品托上。
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