[发明专利]一种光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统及方法

权利要求书

1.一种光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统，其特征在于，所述测量系统包括光源、保偏光纤分束器、光纤环/Y波导直接耦合模块、光功率计和调制电路；

其中，所述光纤环/Y波导直接耦合模块中光纤环通过尾纤直接耦合到Y波导芯片；

所述光源、保偏光纤分束器以及光纤环/Y波导直接耦合模块依次连接，所述光功率计与保偏光纤分束器的信号输出端相连接；所述调制电路作用于光纤环/Y波导耦合模块中的Y波导，用于调制光纤环/Y波导耦合模块中的光信号相位；

所述光源发出的光信号，经保偏光纤分束器后进入光纤环/Y波导直接耦合模块，在光纤环/Y波导直接耦合模块中Y波导的分光作用下，所述光信号分为第一光信号和第二光信号；所述调制电路作用于第一光信号和/或第二光信号，使得所述第一光信号与第二光信号之间形成相位差；所述第一光信号沿光纤环顺时针传输后回到Y波导，与沿光纤环逆时针传输回到Y波导的第二光信号合光形成干涉光信号，所述干涉光信号离开Y波导后进入保偏光纤分束器；通过与保偏光纤分束器相连接的光功率计，可以测量得到该干涉光信号的光功率大小；

由此方式，根据干涉光信号的光功率大小变化，可以计算得出光纤环/Y波导直接耦合模块中Y波导分光比的大小。

2.根据权利要求1所述的光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统，其中，所述光源为线偏振光源，该线偏振光源的工作波段与Y波导一致，通过保偏尾纤与保偏光纤分束器相连接。

3.根据权利要求1或2所述的光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统，其中，所述光源与保偏光纤分束器通过第一尾纤和第二尾纤相连接，所述尾纤和第二尾纤以0°或90°对轴熔接。

4.根据权利要求1或2所述的光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统，其中，所述保偏光纤分束器与光纤环/Y波导直接耦合模块通过第三尾纤连接，所述第三尾纤与光纤环/Y波导耦合模块0°对轴熔接。

5.根据权利要求1或2所述的光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统，其中，所述调制电路为光纤环/Y波导直接耦合模块中沿相反方向传输的第一光信号和第二光信号提供0～2π的连续变化的相位差调制，使得相位差可以在0～2π的范围内变化。

6.根据权利要求1或2所述的光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统，其中，所述光信号在保偏光纤分束器的快轴中传输。

7.一种采用权利要求1～6任一项所述光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统的分光比测量方法，其特征在于，包括，

(1)调节调制电路，对光纤环/Y波导直接耦合模块中的Y波导施加相位调制，使得沿相反方向传输的第一光信号和第二光信号之间产生连续变化的相位差；

(2)采用光功率计记录下步骤(1)中所述第一光信号和第二光信号之间的相位差连续变化时，保偏光纤分束器输出的干涉光信号的光功率曲线；

(3)根据所述光功率曲线确定所述第一光信号和第二光信号之间的相位差在0～2π连续变化时，干涉光信号的功率最大值I_max和最小值I_min；

(4)计算光纤环/Y波导直接耦合模块中Y波导的分光比。

8.根据权利要求7所述的分光比测量方法，其中，步骤(4)中Y波导的分光比的计算公式为：

9.根据权利要求7或8所述的分光比测量方法，其中，所述第一光信号和第二光信号之间的相位差变化范围为0～2π。

10.一种光纤环/Y波导直接耦合模块中分光比测量系统的分光比测量方法，其特征在于，包括，

(1)光源发出光信号，所述光信号经过保偏光纤分束器进入光纤环/Y波导直接耦合模块；

(2)所述光纤环/Y波导直接耦合模块中的Y波导，将光信号分为第一光信号和第二光信号；

(3)调制电路作用于第一光信号和/或第二光信号，使得所述第一光信号与第二光信号之间形成相位差；

(4)所述第一光信号沿光纤环顺时针传输后回到Y波导，与沿光纤环逆时针传输回到Y波导的第二光信号合光形成干涉光信号；

(5)利用光功率计测量得到步骤(4)中所述干涉光信号的光功率；

(6)根据步骤(5)中测得的光功率绘制干涉光信号的光功率曲线；

(7)根据光功率曲线确定干涉光信号的功率最大值I_max和最小值I_min，计算光纤环/Y波导直接耦合模块中Y波导的分光比大小。