[发明专利]一种成像方法及系统、图像传感器、终端设备有效

专利信息
申请号: 201710675686.8 申请日: 2017-08-09
公开(公告)号: CN109389010B 公开(公告)日: 2023-06-30
发明(设计)人: 甘廷文;覃顺;张晓东 申请(专利权)人: 深圳市安普盛科技有限公司
主分类号: G06V40/12 分类号: G06V40/12;G06V10/10;G06V10/20;G06T5/10;G06T3/40
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 李艳丽
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 成像 方法 系统 图像传感器 终端设备
【权利要求书】:

1.一种成像方法,其特征在于,所述方法包括:

获取两幅子图像,所述两幅子图像分别由滑动式传感器的两排传感器所采集;

检测所述滑动式传感器的运动状态是否为滑动状态;

当处于滑动状态时,对所述子图像中进行校正;

对校正后的图像进行图像拼接,获得拼接图像;

所述对所述子图像中进行校正具体包括:

计算所述两幅子图像之间的偏移量;

从所述两幅子图像中选择一幅子图像;

基于所计算的偏移量对所选择的子图像进行校正;

所述计算所述两幅子图像之间的偏移量具体包括:

获取当前两幅子图像相关计算的相关结果;

对所述相关结果进行频谱延拓处理;

对频谱延拓处理的数据进行加窗处理,获得加窗处理的数据;

对所述加窗处理的数据进行反傅里叶变换处理,获得最终数据矩阵;

从所述最终数据矩阵中获取最大峰值,以所述最大峰值对应的位置数据作为所述两幅子图像之间的偏移量。

2.根据权利要求1所述的成像方法,其特征在于,所述基于所计算的偏移量对所选择的子图像进行校正具体包括:

基于所述偏移量对所选择的子图像进行Y 方向的校正;

对进行Y方向校正后的子图像进行X方向的校正。

3. 根据权利要求2所述的成像方法,其特征在于,所述基于所述偏移量对所选择的子图像进行Y 方向的校正具体包括:

采用下述公式对所选择的子图像在Y 方向进行校正:

所述公式为:M’=3M/m,其中,所述M为所选择的子图像校正之前的行数,所述M’为所选择的子图像校正之后的行数,所述m为所述Y方向的偏移量。

4.根据权利要求1所述的成像方法,其特征在于,所述基于所计算的偏移量对所选择的子图像进行校正具体包括:

基于所述偏移量对所选择的子图像进行X方向的校正;

对进行X方向校正后的子图像进行Y方向的校正。

5.一种成像系统,其特征在于,包括:获取模块、与所述获取模块连接的检测模块、与所述检测模块连接的校正模块、与所述校正模块连接的拼接模块,其中:

获取模块,用于获取两幅子图像,所述两幅子图像分别由滑动式传感器的两排传感器所采集;

检测模块,用于检测所述滑动式传感器的运动状态是否为滑动状态;

校正模块,用于当处于滑动状态时,对所述子图像中进行校正;

拼接模块,用于对校正后的图像进行图像拼接,获得拼接图像;

所述校正模块包括:

计算单元,用于计算所述两幅子图像之间的偏移量;

选择单元,用于从两幅子图像中选择一幅子图像;

校正单元,用于基于所计算的偏移量对所选择的子图像进行校正;

所述计算单元包括:

相位相关计算子单元,用于获取当前两幅子图像相关计算的相关结果;

第一处理子单元,用于对所述相关结果进行频谱延拓处理;

第二处理子单元,用于对所述频谱延拓处理的数据进行加窗处理,获得加窗处理的数据;

第三处理子单元,用于对所述加窗处理的数据进行反傅里叶变换处理,获得最终数据矩阵;

偏移量获取子单元,用于从所述最终数据矩阵中获取最大峰值,以所述最大峰值对应的位置数据作为所述两幅子图像之间的偏移量。

6.一种图像传感器,其特征在于,包括两排传感器及如权利要求5所述的成像系统。

7.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述成像方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述成像方法的步骤。

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