[发明专利]用于分析流体包裹体中气态烃碳氢同位素的分析装置

权利要求书

1.一种用于分析流体包裹体中气态烃碳氢同位素的分析装置，其特征在于，所述分析装置包括：

激光显微取样系统、样品纯化富集系统和样品分离系统，其中，所述激光显微取样系统包括激光器和样品室，所述激光器激发所述样品室内的流体包裹体以提取气态烃，所述气态烃通过所述样品纯化富集系统以进行纯化，纯化后的气态烃通过所述样品分离系统检测出气态烃碳氢同位素；

所述激光器为飞秒激光器；

所述样品纯化富集系统包括：相连通的第一冷阱和第二冷阱，所述第一冷阱和/或所述第二冷阱是U形不锈钢管线，所述U形不锈钢管线内填充有填料二乙烯基苯聚合物分子筛；

所述第一冷阱通过管线与所述样品室相连通；所述第一冷阱和所述第二冷阱通过六通阀相连通，所述第一冷阱通过所述六通阀与所述管线相连通，所述第二冷阱的出气口与所述样品分离系统相连通；

所述管线上设有除水管，所述除水管设于所述样品室和所述六通阀之间，所述除水管可以实现防止包裹体中的岩盐颗粒和液烃随氦流进入下步管线和所述六通阀造成堵塞。

2.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，密闭的所述样品室设于显微镜的样品台上。

3.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述样品纯化富集系统还包括冷阱罐以及加热炉。

4.如权利要求3所述的分析装置，其特征在于，所述冷阱罐内填充有液氮和酒精的混合液。

5.如权利要求1至4中任意一项所述的分析装置，其特征在于，所述样品分离系统依次包括：相连通的气相色谱柱、氧化炉和/或高温裂解炉、以及同位素质谱计。

6.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，所述样品室一端与所述除水管相连通，另一端与氦气源相连通。

7.如权利要求3所述的分析装置，其特征在于，所述冷阱罐和所述加热炉设于升降台上。