[发明专利]一种液晶显示器生产线测试结果保存方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶生产技术领域，尤其涉及一种液晶显示器生产线测试结果保存方法。

背景技术

液晶显示器生产中，为了便于异常分析，需保存每台的调整结果及唯一序列号。一般使用普通读码枪，人工对准所需的条码读入到调整程式中。人工读码会占用人力，容易读错条码，读取时间为3秒左右，效率较低。使用高精度读码枪，错码率降低，但读码设备成本高，效率同样低。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种液晶显示器生产线测试结果保存方法，该方法能有效地减少人力和站位，降低生产成本，读码时间缩短，提升效率。

本发明采用的技术方案是：

一种液晶显示器生产线测试结果保存方法，其包括以下步骤：

1)烧录程式在烧录扩展显示标识数据(EDID)时，将原始序列号(SN)数据发送给液晶显示器，并保存在液晶显示器的固件中；

2)调用测试程序对液晶显示器进行测试，在测试前测试程序直接从液晶显示器的固件中读取原始序列号数据，并基于原始序列号数据生成目标序列号数据；

3)当目标序列号数据获取失败时，测试程序显示获取错误，并提示操作人员进行异常处理；

4)当目标序列号数据获取成功时，测试程序根据选定的测试项目进行测试；

5)测试程序在完成测试项目后将测试结果以及对应的目标序列号数据保存到本地或网络数据库；

6)测试程序提示对应液晶显示器测试完成，并通知操作人员进行下一台测试。

进一步地，步骤2)中测试程序生成目标序列号数据的具体步骤为：

2.1)测试程序中从液晶显示器的固件中读取一份显示标识数据；

2.2)测试程序中从显示标识数据中查找原始序列号数据；

2.3)测试程序根据测试机种在原始序列号数据的不同位置增加固定字符串，拼接形成目标序列号数据。

本发明采用以上技术方案，在使用现有测试、烧录硬件的基础上，在烧录扩展显示标识数据(EDID)时，在液晶显示器固件(FW)内烧录原始序列号(SN)数据；测试程序通过命令读取原始序列号数据；测试程序基于原始序列号数据获取目标序列号数据后，完成相关测试，并将测试结果连同对应目标序列号数据保存于本地或者网络数据库；本发明通过测试程序读取原始序列号数据至保存目标序列号数据的时间仅为0.5秒，相比之前人工读取Sn，节约2.5秒，效率大大提升。本发明的技术方案在测试、烧录时间缩短，无需人工读码，有效地减少人力，提升效率，降低生产成本。

附图说明

以下结合附图和具体实施方式对本发明做进一步详细说明；

图1为本发明一种液晶显示器生产线测试结果保存方法的流程示意图。

具体实施方式

如图1所示，本发明一种液晶显示器生产线测试结果保存方法，其包括以下步骤：

1)烧录程式在烧录扩展显示标识数据(EDID)时，将原始序列号(SN)数据发送给液晶显示器，并保存在液晶显示器的固件中；具体来说，在烧录EDID的站位，可以使用读码枪读码，序列号数据的全部或部分被保存到EDID中，达成测试程序读取原始序列号数据的前提。

2)调用测试程序对液晶显示器进行测试，在测试前测试程序直接从液晶显示器的固件中读取原始序列号数据，并基于原始序列号数据生成目标序列号数据；

3)当目标序列号数据获取失败时，测试程序显示获取错误，并提示操作人员进行异常处理；

4)当目标序列号数据获取成功时，测试程序根据选定的测试项目进行测试；

5)测试程序在完成测试项目后将测试结果以及对应的目标序列号数据保存到本地或网络数据库；

6)测试程序提示对应液晶显示器测试完成，并通知操作人员进行下一台测试。

进一步地，步骤2)中测试程序生成目标序列号数据的具体步骤为：

2.1)测试程序中从液晶显示器的固件中读取一份显示标识数据；

2.2)测试程序中从显示标识数据中查找原始序列号数据；例如针对某类机种可以读取液晶显示器EDID的12位到15位，通过计算解析出原始序列号数据。

2.3)测试程序根据测试机种在原始序列号数据的不同位置增加固定字符串，拼接形成目标序列号数据。

下面就本发明具体效果做详细说明：

现在以1个烧录站位以及9个测试站位为例，如表1所示，本发明与在先技术效果的不同之处。