[发明专利]基于素信号组合求解缺陷漏磁信号的方法有效

专利信息
申请号: 201710681267.5 申请日: 2017-08-10
公开(公告)号: CN107576721B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 黄松岭;彭丽莎;赵伟;王珅;龙跃 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82;G06F17/50
代理公司: 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 张润<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 缺陷漏磁 漏磁信号 求解 预设 数据库 右移 左移 匹配 基础信息 计算效率 求解过程 信号对应 信号组合 磁偶极 查询
【权利要求书】:

1.一种基于素信号组合求解缺陷漏磁信号的方法,其特征在于,包括:

获取待求解缺陷漏磁信号对应缺陷的长度l、宽度w和深度d;

根据所述宽度w和所述深度d在预设数据库中获取与所述宽度w和所述深度d匹配的素信号fB(x);

根据所述长度l对获取的素信号fB(x)沿长度方向进行左移变换操作和右移变换操作,分别得到左素信号fBL(x)和右素信号fBR(x);

对所述左素信号fBL(x)和所述右素信号fBR(x)进行组合,得到所述缺陷漏磁信号f(x);

在获取待求解缺陷漏磁信号对应缺陷的长度l、宽度w和深度d之前,还包括:

建立所述预设缺陷的宽度、深度与所述素信号fB(x)的映射关系;

根据所述映射关系创建所述预设数据库。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷的长度方向沿磁化方向;所述缺陷的宽度方向沿在漏磁检测平面上垂直于磁化方向的方向;所述缺陷的深度方向沿被测件的厚度方向。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述长度l对获取的素信号fB(x)沿长度方向进行左移变换操作,得到左素信号fBL(x)包括:

将所述素信号fB(x)沿长度方向向左平移l/2,得到所述左素信号fBL(x);

其中,所述左素信号fBL(x)满足以下公式:

fBL(x)=fB(l/2+x)。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述长度l对获取的素信号fB(x)沿长度方向进行右移变换操作,得到右素信号fBR(x)包括:

将所述素信号fB(x)沿中心轴做轴对称操作;

将经轴对称操作的素信号fB(x)沿长度方向向右平移l/2,得到所述右素信号fBR(x);

其中,所述右素信号fBR(x)满足以下公式:

fBR(x)=fB(l/2-x)。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述左素信号fBL(x)和所述右素信号fBR(x)进行组合,得到所述缺陷漏磁信号f(x),包括:

对所述左素信号fBL(x)和所述右素信号fBR(x)进行相加,得到所述缺陷漏磁信号f(x);

其中,所述缺陷漏磁信号f(x)满足以下公式:

f(x)=fBL(x)+fBR(x)。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在建立所述预设缺陷的宽度、深度与所述素信号fB(x)的映射关系之前,还包括:采用解析计算方法确定所述素信号fB(x);

或者,采用数值仿真方法确定素信号fB(x);

或者,采用试验检测方法确定素信号fB(x)。

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