[发明专利]自动光学检查机及玻璃基板的缺陷检查方法

权利要求书

1.一种自动光学检查机，用于检测玻璃基板的缺陷，所述玻璃基板包括显示区及位于所述显示区之间的间隙区，其特征在于，所述自动光学检查机包括第一摄像头、第二摄像头及传送机构，所述第一摄像头与所述第二摄像头相对设置，并且所述第一摄像头与所述第二摄像头之间形成待检测工位用于放置待检测的所述玻璃基板，所述传送机构包括传送轮，所述传送轮位于所述第一摄像头与所述第二摄像头之间，所述传送轮用于将所述玻璃基板传送至所述待检测工位，当所述玻璃基板位于所述待检测工位时，所述传送轮位于所述间隙区相对的两个表面，所述第一摄像头和所述第二摄像头用于分别从所述玻璃基板相对的两侧拍摄所述显示区；

所述传送机构还包括边缘滚轮，所述边缘滚轮依次相连形成封闭图形包围所述传送轮，所述边缘滚轮用于接触所述玻璃基板的边缘区的表面，所述边缘滚轮和所述传送轮共同作用，以将所述玻璃基板传送至所述待检测工位。

2.根据权利要求1所述的自动光学检查机，其特征在于，所述自动光学检查机还包括第一活动支架，所述第一活动支架滑动连接所述自动光学检查机，所述第一活动支架用于在所述玻璃基板的长度方向上相对所述玻璃基板移动，所述第一摄像头滑动连接所述第一活动支架，所述第一摄像头用于在所述玻璃基板的宽度方向上相对所述玻璃基板移动，以使所述第一摄像头拍摄所述玻璃基板面对所述第一摄像头一侧表面的任意位置。

3.根据权利要求2所述的自动光学检查机，其特征在于，所述自动光学检查机还包括第二活动支架，所述第二活动支架滑动连接所述自动光学检查机，所述第二活动支架用于在所述玻璃基板的长度方向上相对所述玻璃基板移动，所述第二摄像头滑动连接所述第二活动支架，所述第二摄像头用于在所述玻璃基板的宽度方向上相对所述玻璃基板移动，以使所述第二摄像头拍摄所述玻璃基板面对所述第二摄像头一侧表面的任意位置。

4.根据权利要求3所述的自动光学检查机，其特征在于，所述第一活动支架与所述第二活动支架固定连接，以使所述第一活动支架与所述第二活动支架相对所述玻璃基板同步移动。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的自动光学检查机，其特征在于，所述传送轮的数量为多个，并且每个所述传送轮的旋转轴一致，以使所述传送轮对所述玻璃基板的表面施加的摩擦力的方向相同。

6.根据权利要求5所述的自动光学检查机，其特征在于，所述传送轮包括相对设置的第一传送轮与第二传送轮，所述第一传送轮位于所述第一摄像头与所述第二传送轮之间，所述第一传送轮用于接触所述玻璃基板面对所述第一摄像头的一侧表面，所述第二传送轮位于所述第二摄像头与所述第一传送轮之间，所述第二传送轮用于接触所述玻璃基板面对所述第二摄像头的一侧表面，所述第一传送轮与所述第二传送轮的旋转方向相反。

7.一种玻璃基板的缺陷检查方法，其特征在于，包括：

提供自动光学检查机，所述自动光学检查机包括检测单元和审查单元，所述审查单元包括第一摄像头、第二摄像头及传送机构，所述传送机构包括传送轮，所述玻璃基板包括显示区及位于所述显示区之间的间隙区，所述第一摄像头拍摄第一表面的所述显示区，所述第二摄像头拍摄第二表面的所述显示区；

所述传送机构通过所述传送轮接触玻璃基板，并将所述玻璃基板传送至待检测工位，当所述玻璃基板位于所述待检测工位时，所述传送轮位于所述间隙区相对的两个表面；

所述检测单元捕捉到玻璃基板的缺陷位置；

所述玻璃基板包括相对设置的第一表面和第二表面，所述第一摄像头移动至对应所述缺陷位置，并从所述第一表面拍摄所述缺陷位置，所述第二摄像头移动至对应所述缺陷位置，并从所述第二表面拍摄所述缺陷位置；

所述第一摄像头和所述第二摄像头将拍摄的图片传送至显示设备供作业人员查看；

所述玻璃基板还包括位于所述玻璃基板的边缘的边缘区，所述传送机构还包括边缘滚轮，所述边缘滚轮依次相连形成封闭图形包围所述传送轮，当所述玻璃基板位于所述待检测工位时，所述边缘滚轮位于所述边缘区的表面。