[发明专利]一种基于双工位新型结构的测试机

权利要求书

1.一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：它包括进出料输送线（1）和位于所述进出料输送线（1）两侧的两套测试工位测试装置（2），所述进出料输送线（1）上设置有待分配工位（11），两套所述测试工位测试装置（2）上均设置有与所述待分配工位（11）相配合的取料机构（3）。

2.根据权利要求1所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：它还包括异常产品捉取模块（4），所述异常产品捉取模块（4）包括夹料机械手（41）和机械手上下驱动电机（42），所述夹料机械手（41）位于所述取料机构（3）的上方，所述夹料机械手（41）设置在所述机械手上下驱动电机（42）的输出轴上，所述夹料机械手（41）与产品键盘相适配。

3.根据权利要求1所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：所述测试工位测试装置（2）包括配重敲击测试模块（5），所述配重敲击测试模块（5）位于所述取料机构（3）的上方，所述配重敲击测试模块（5）包括框架（51）、驱动板（52）和若干电磁铁配重敲击块（53），所述驱动板（52）位于所述框架（51）的上端的两侧，所述框架（51）的中部设置有与产品键盘上的若干按键一一对应的安装孔（54），若干所述电磁铁配重敲击块（53）与若干所述安装孔（54）一一对应并依次安装在所述安装孔（54）中，所述驱动板（52）上设置有若干与所述电磁铁配重敲击块（53）相对应的连接槽口（55），所述驱动板（52）通过若干所述连接槽口（55）与若干所述电磁铁配重敲击块（53）电连接。

4.根据权利要求1所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：所述一种基于双工位新型结构的测试机还包括信息处理系统，所述测试工位测试装置（2）还包括产品电学性能测试模块（6），所述产品电学性能测试模块（6）位于所述取料机构（3）的下方，所述产品电学性能测试模块（6）包括电测支架（61）、测试针板（62）和针板驱动电机（63），所述测试针板（62）与产品键盘相配合，所述测试针板（62）与所述信息处理系统电连接，所述针板驱动电机（63）设置在所述电测支架（61）上，所述测试针板（62）设置在所述针板驱动电机（63）的输出轴上，所述测试针板（62）的上端设置有缓冲垫块（64）。

5.根据权利要求1所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：所述进出料输送线（1）包括送料轨道（10），所述送料轨道（10）的两端分别设置有进料工位（12）和出料工位（13），所述待分配工位（11）设置在所述送料轨道（10）的中部，所述进料工位（12）、所述待分配工位（11）和所述出料工位（13）上均设置有传动送料模块（14）与工位阻挡模块（15），所述工位阻挡模块（15）位于相应的工位的末端。

6.根据权利要求5所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：所述工位阻挡模块（15）包括阻挡气缸（151）和阻挡块（152），所述阻挡块（152）设置在所述阻挡气缸（151）的输出轴上，所述阻挡块（152）可在所述送料轨道（10）的上方或下方上下运动。

7.根据权利要求1所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：所述进出料输送线（1）的前端设置有扫描机构（7），所述扫描机构（7）包括基座（71）、调节杆（72）、多关节调节块（73）和扫描枪（74），所述调节杆（72）设置在所述基座（71）上，所述多关节调节块（73）与所述调节杆（72）滑动配合，所述扫描枪（74）设置在所述多关节调节块（73）上。

8.根据权利要求1所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：所述待分配工位（11）上设置有顶升机构（8），所述顶升机构（8）包括顶升气缸（81）和顶升板（82），所述顶升板（82）设置在所述顶升气缸（81）的输出轴上，所述顶升板（82）与所述取料机构（3）相配合。

9.根据权利要求1所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：所述取料机构（3）包括位于所述待分配工位（11）前后两端的取料导轨（31）和与所述取料导轨（31）相滑动配合的承载取料块，所述取料导轨（31）垂直于所述进出料输送线（1），所述取料导轨（31）上设置有与所述承载取料块相配合的导轨驱动电机（32）。

10.根据权利要求9所述的一种基于双工位新型结构的测试机，其特征在于：所述测试工位测试装置（2）还包括产品固定定位模块（9），所述产品固定定位模块（9）位于所述配重敲击测试模块（5）和所述取料机构（3）之间，所述产品固定定位模块（9）包括固定架（91）和均设置在所述固定架（91）上的上压板（92）与上压板固定座（93），所述上压板（92）上设置有若干与产品键盘上的按键一一对应并适配的按键槽（94），所述上压板（92）与所述上压板固定座（93）相螺接，所述上压板固定座（93）适配安装在所述固定架（91）上。