[发明专利]检测装置

权利要求书

1.一种检测装置，包括：

至少一个线圈，在壳体上方；

定位单元，在所述壳体上方；以及

控制单元，被配置为通过比较所述至少一个线圈的至少一个电参数与阈值来检测异物，

其中，所述定位单元的一部分是磁性材料，

所述检测装置进一步包括：

磁屏蔽材料，所述磁屏蔽材料配置在电子设备的外壳与接收器线圈和检测器线圈之间，所述磁屏蔽材料降低向外磁通量泄漏，并且能够保持所述至少一个线圈与所述定位单元之间的位置关系，

其中，所述定位单元布置在所述至少一个线圈的内侧。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其中，所述至少一个线圈的所述至少一个电参数是品质因数。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其中，检测器测量与所述至少一个线圈或者包括所述至少一个线圈的电路相关的所述至少一个电参数，并且从所述至少一个电参数的改变来确定是否存在由于磁通量而生成热量的异物。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其中，所述至少一个电参数是所述至少一个线圈或者包括所述至少一个线圈的电路的Q因数。

5.根据权利要求1所述的检测装置，进一步包括：

非接触电力提供线圈，用于非接触式电力提供，

其中，所述至少一个线圈和所述非接触电力提供线圈通过所述定位单元定位在磁屏蔽材料上。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其中，对于由磁性材料制成并且设置为接近所述至少一个线圈中的至少两个或以上线圈的所述定位单元，使得如下各项中的至少一个在所述定位单元中不同：每个定位单元中的所述磁性材料的磁导率的实部、所述磁导率的虚部、X方向、Y方向和Z方向上的最外尺寸、所述X方向、所述Y方向和所述Z方向上的位置以及要布置的单元的量。

7.根据权利要求6所述的检测装置，其中，在所述磁性材料中，所述磁导率的所述实部的值大于所述磁导率的所述虚部的值。

8.根据权利要求6所述的检测装置，其中，所述定位单元的所述磁性材料的最外尺寸小于所述至少一个线圈的最外尺寸。

9.根据权利要求8所述的检测装置，其中，所述定位单元的所述磁性材料的所述最外尺寸小于所述至少一个线圈的最内尺寸。

10.根据权利要求1所述的检测装置，其中，在所述至少一个线圈中，所述至少一个线圈电连接，使得从所述至少一个线圈产生的磁通量与从多个线圈中的剩余线圈产生的磁通量具有相反方向。

11.根据权利要求1所述的检测装置，其中，所述至少一个线圈被配置为通过使用串联连接、并联连接或者串联连接和并联连接的组合而电连接。

12.根据权利要求1所述的检测装置，其中，至少包括所述至少一个线圈的电路是谐振电路。